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Zhuhai Truth Optical Instrument Co., Ltd
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珠海市ハイテク区金唐路1号港湾1号科創園湾5棟3階
レーザ散乱法による大粒子測定における回折理論を用いた誤差
粒子径測定及び研磨材用各種粒子計器
球形粒子のサイズの変化による空気ディスクの異常変化
レーザ散乱法による大粒子測定における回折理論を用いた誤差−真理光学
粒径測定及び研磨材用各種粒子計器−真理光学
粒子散乱光エネルギー分布の異常な移動及び粒子サイズ解析への影響
レーザー粒度分析ソフトウェアによるGMP仕様のソリューション
レーザー粒度試験の理論と技術の新たな進展
シリカ混合試料の粒度コントラスト試験研究−真理光学
異常サイズ範囲におけるレーザー折射による粒子サイズの不確定
レーザー粒度計における棒状粒子とシート状粒子の等価粒子径（一）―立論と計算モデル
レーザ粒度計の測定上限