真理光学機器有限会社はGao端粒子特徴機器の研究開発と製造に専念し、製品はレーザー（回折法）粒子サイズ分析器、動的光散乱ナノ粒子サイズ及びZeta電位分析器及び粒子画像分析器を含み、実験室機器もあれば、オンライン検査システムもある。真理光学は「科学的態度、職人精神」を堅持し、ユーザーに世界Xian進のGao端製品とサービスを提供する。

真理光学は張福根博士をはじめとする全国の粒子特性化分野のトップ人材を集めている。張福根博士は現在、当社の理事長兼初のXi科学者であり、全国顆粒特性評価及び分検・スクリーン標準化技術委員会副主任委員、天津大学兼任教授を務め、中国顆粒学会副理事長を務めたことがあり、同時に「欧米グラム」ブランド会社の創始者でもある。英国のある粒度計器会社の中国総経理を20年以上務めた秦和義氏は当社のビジネス総経理、中国粒度学会青年理事の潘林超博士、陳進博士が同社の研究開発の主力を務めている。

レーザー（回折法）粒度計は広く応用されているが、科学的基礎の面であれ、技術案の面であれ、Wan美ではない。真理光学のチームは現在市場に存在する機器の不足に対して、系統的な理論研究と技術革新を展開し、回折スポット（エリスポット）の異常変化現象（ACAD）を発見し、なぜ3μm程度のポリスチレン微小球を測定できないのかを説明し、異常領域（粒子径を測定できない）の一般式を与えた、回折装置の測定上限と下限を研究した、粒子屈折率偏差が測定結果に与える影響を研究し、散乱光分布に基づいて粒子屈折率を推定する2種類の方法を発明した、斜置台形窓技術方案（Zhuan利）を提出し、前方超大角測定盲点の問題を解決し、回折装置のサブミクロン粒子測定レベルを顕著に向上させた、統一的な反転アルゴリズム（独自技術）を提案し、異なる計算モードが異なる結果を与える気まずいことを解消した、20 Kfpsまでの超高速並列データサンプリング回路を設計し、乾式測定の精度が湿式測定に劣らず、高速噴霧場の測定（時間）分解能も高いようにした。

ナノ粒子度及びZeta電位計において、真理光学は位相分析法（PALS）よりも先進的な余弦適合位相分析法（CF-PAS）を提案し、従来の平板ビームスプリッタビームスプリッタビームに光ファイバビームスプリッタを置換し、自由空間干渉に光ファイバ内光干渉を置換し、Zeta電位の測定繰り返し性を大幅に向上させた。

Linkoptik Instrumentsは,レーザー (折射) 粒子サイズ分析機,ダイナミック光散射ナノ粒子サイズとゼタポテンシャル分析機,粒子画像分析機,実験室機器とオンライン検査システムを含むハイエンドの粒子特徴分析機器の開発と製造を専門としています.リンクオプティック・インストルメントは,世界の先進的なハイエンド製品とサービスを顧客に提供するための"科学的な態度と工芸"を維持しています.

Linkoptik Instrumentsは,Fugen Zhang博士が代表する中国の粒子特徴分野で最高の才能を集めました.Zhang博士は,当社の会長兼首席科学者であり,粒子特徴化およびシービングおよびシービング標準化に関する全国技術委員会の副会長,天津大学のパートタイム教授,中国粒子学会の副会長でもあります.20年以上中国の粒子サイズの儀器会社の総裁を務めたQin He Yi氏は,会社の商業総裁であり,中国粒子学会の若い取締役であるPan Linchao博士とChen Jin博士は,会社の主要なR&Dチームです.

レーザー（衍射）粒子サイズ 測定は広く使用されており、科学的基礎と技術的解決の両方で完璧ではありません。Truth Opticsのチームは,市場上の現在の儀器の欠点を解決するための系統的な理論研究と技術革新を行い,衍射点の異常変化 (エアリースポット) (ACAD) の現象を発見し,3μm周辺のポリスチレン微球を測定できない理由を説明し,異常領域 (粒子サイズを測定しない) の一般的な公式を提供しました.折射器の上および下の測定限界を研究した;粒子の影響を研究した 測定結果に対する折射指数偏差の影響を研究し,散射光分布に基づく粒子の折射指数を推定するための2つの方法が発明された.曲線型トラペゾイドウィンドウの技術解決（特許）が提案され、前方の超大きな角度測定の盲区の問題を解決し、折射器のサブマイクロン粒子測定レベルを大幅に改善した。統一された逆転アルゴリズム（独自の技術）が提案され、異なる計算モードで異なる結果を得るための異な異なる計算モードの異異なる結果を排除した。設計 20Kfpsまでの超高速並行データサンプリング回路が設計され、乾燥測定の精度は湿測定よりも少なく、高速スプレーフィールドの測定（時間）解像度も高くなります。

ナノメートル粒子サイズとゼタポテンシャル測定において,リンクオプティク・インストルーメントは,PALSよりも先進的なコサインフィットフェーズ分析方法 (CF-PALS) を提案し,伝統的なフラットビームスプリッターミラービームスプリッティングを光ファイバービームスプリッティングに置き換え,自由空間干渉を光ファイバー内部の光干渉に置き換え,ゼタポテンシャル測定の繰り返し性を大幅