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Zhuhai Truth Optical Instrument Co., Ltd
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レーザ散乱法による大粒子測定における回折理論を用いた誤差
日付:2017-08-18読み:0

レーザー粒度計は光の散乱原理に基づいて粒子サイズを測定する。光の散乱現象はミエ(Mie)理論で厳密に記述できるが、ミエ理論の数値計算は非常に複雑である。従来の見方では、粒子が光波長(>2µm)よりはるかに大きい場合、その散乱は比較的簡単なFraunhoff回折理論で記述できる。本文の著者は実験を通じて、回折理論を用いて大粒子の散乱光エネルギーデータを分析する時、1µm付近で「無中生有」が粒度分布ピークを出すことを発見した。本文はまず上述の現象を説明し、分析し、それから光学理論を用いて解釈し、これが回折理論の誤差によるものであることを確認した後、粒子の屈折率が虚部を持つ、すなわち粒子が吸収性を持つ場合にのみ、回折理論がレーザー粒度計で使用できることを指摘した。