透過型電子顕微鏡双傾プローブの電気的その場系

交渉可能更新02/16

モデル

製造者の性質: プロデューサー

製品カテゴリー

原産地

オンラインコンサルト

概要

透過型電子顕微鏡双傾プローブの電気学的なその場システムはナノプローブを通じてサンプルに電界制御を加え、EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEMなどの多種の異なるモードを結合し、ナノレベルからリアルタイム、動的にサンプルを監視し、真空環境下で電界の変化に伴って発生するミクロ構造、相転移、元素原子価状態、ミクロ応力及び表/界面での構造と成分発展などの重要な情報を実現する。

製品詳細

私たちの強み

ナノプローブ制御システム

1.高精度圧電セラミック駆動、ナノレベル精度デジタル化の正確な位置付け。

2.単一ナノ構造の操作及び電気的測定が可能である。

優れた電気性能

特殊設計は電気測定の低騒音と正確性を保証し、電流測定の精度はピオンレベル。

インテリジェント化ソフトウェア

1.マンマシン分離、ソフトウェア遠隔調節電気条件、プログラム自動化制御傾斜角度。

2.全過程で実験詳細データを自動的に記録し、総括と回顧に便利である。

技術仕様

カテゴリー	プロジェクト	パラメータ
基本パラメータ	ロッドマテリアル	高強度チタン合金
	せいぎょモード	高精度圧電セラミックス
	けいしゃかく	α≧±20°，β≧±20°（実際の範囲は透過型電子顕微鏡と極靴の型番に依存する）
	適用可能な電子顕微鏡	サーモフィッシャー/FEI、JEOL、日立
	ユーティリティシュー	ST、XT、T、BioT、HRP、HTP、CRP
	（HR）TEM/STEM	サポート
	（HR）EDS/EELS/SAED	サポート

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