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厦門超新芯科技有限公司
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透過型電子顕微鏡二重傾斜光熱原位システム

交渉可能更新12/14
モデル
製造者の性質
プロデューサー
製品カテゴリー
原産地
概要
透過型電子顕微鏡二重傾斜光熱原位置システムはMEMSチップと光ファイバに導入された光源を通じて原位置サンプル台内に熱、光複合多場自動制御及びフィードバック測定システムを構築し、EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEMなどの多種の異なるモードを結合し、ナノメートルから原子レベルまでリアルタイム、動的モニタリングサンプルが真空環境下で温度、光場の変化に伴って発生するミクロ構造、相変化、元素価状態、ミクロ応力及び表/界面における原子レベル構造と成分進化などの重要な情報を実現する。
製品詳細


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私たちの強み

光ソリューション

1.一体型レーザー光源、紫外-可視-赤外の異なる波長帯を集積し、特定の波長レーザーを出力し、光信号が強い(最大強度は150 mW以上)、光源強度を迅速に連続的に調整でき、応答時間が短い(ミリ秒レベル)

2.特殊構造設計、超低光損失、エネルギー安定均一。


優れた熱特性

1.高精密赤外線測温補正、ミクロン級高分解熱場測定及び校正、温度の正確性を確保する。

2.両電極の超高周波温度制御方式は、導線と接触抵抗の影響を排除し、温度と電気学パラメータを測定することがより正確である。

3.高安定性貴金属加熱ワイヤ(非セラミック材料)を採用し、熱伝導材料であり、感熱材料であり、その抵抗は温度と良好な線形関係があり、加熱区は観測領域全体をカバーし、昇温降温速度が速く、熱場が安定で均一で、安定状態で温度変動≦±0.01℃である。

4.閉回路の高周波動的制御とフィードバック環境温度の制御方式を採用し、高周波フィードバック制御は誤差を解消し、制御温度精度は±0.01℃である。

5.多段複合加熱MEMSチップの設計、加熱過程の熱拡散を制御し、昇温過程の熱ドリフトを極めて抑制し、実験の効率的な観察を確保する。

6.加熱ワイヤの外部は窒化ケイ素で被覆され、サンプルと反応せず、実験の正確性を確保する。


インテリジェント化ソフトウェアと自動化デバイス

1.マンマシン分離、ソフトウェア遠隔調節レーザー波帯と強度、プログラム自動化制御傾斜角度。

2.プログラム昇温曲線をカスタマイズします。10ステップ以上の昇温プログラム、恒温時間などを定義することができ、同時に手動で目標温度と時間を制御することができ、プログラムの昇温過程で温度変化と恒温が必要であることを発見し、直ちに実験案を調整し、実験効率を高めることができる。

3.内蔵絶対温度計の校正プログラム、各チップの温度制御は毎回抵抗値によって変化し、曲線フィッティングと校正を再び行い、測定温度の正確性を確保し、高温実験の再現性と信頼性を保証する。

4.全プロセスに精密自動化設備を配備し、人工操作に協力し、実験効率を高める。




技術仕様

カテゴリー プロジェクト パラメータ
基本パラメータ ロッドマテリアル
高強度チタン合金
でんきょくすう 2
窓膜厚 膜なしまたは20 nm
ドリフト率 <0.5 nm/min(定常状態)
けいしゃかく α≧±25°,β≧±25°(実際の範囲は極靴型番に依存する)
適用可能な電子顕微鏡 ThermoFisher/FEI、JEOL、日立
ユーティリティシュー ST、XT、T、BioT、HRP、HTP、CRP
(HR)TEM/STEM サポート
(HR)EDS/EELS/SAED 昇温過程及び高温検査を支持する













応用事例

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1300°C恒温、金属合金拡散、チップ温度安定性が良く、ドリフト率が低い

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室温-1000°C変温過程におけるMOF材料の炭化研究



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800℃の高温、光照射条件下でのセリアナノ粒子の表面構造変化