だ円偏光検出機台

一、製品の概要

頤光技術だ円偏光検出機台小型偏光解析集積機台として、全体の高さモジュール化、電気、ガス路集積技術を通じて、異なる偏光解析モジュールのオンライン/オフライン式全体偏光解析ソリューションを実現する。

二、製品の特徴

■実験室の研究全体の偏光解析統合制御測定技術を支持する、

■産線大基板のオフラインカスタム多点走査測定をサポートし、報告書を出力する、

■多楕円偏光方案を支持し、多組み合わせ集積

■ヘッドモジュール及びサンプルテーブルのカスタマイズをサポートする

三、応用シーン

科学研究における各種等方性、異性体薄膜材料の膜厚、光学定数及び一次元、二次元ナノ格子の構造特性評価に応用する、工業分野の新型光電デバイス業界に係る薄膜（配向膜、レジスト、ITO、発光薄膜、封止薄膜）の全シートオフライン化高速走査測定。

リファレンスデザイン

高度統合偏光解析技術方案

技術仕様