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青島森納瑞精密機器有限公司
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ツァイス高速走査電子顕微鏡MultiSEM

交渉可能更新01/28
モデル
製造者の性質
プロデューサー
製品カテゴリー
原産地
概要
蔡司高速走査電子顕微鏡MultiSEMは、独立して高コントラスト画像収集を自動的に行うことができる。成熟したZENイメージングソフトウェアを使用してMultiSEMを制御する:この高性能走査電子顕微鏡のすべての機能オプションを直感的かつ柔軟に管理することができます。
製品詳細

委は申子品のマイクロミラー速度の革新時代を開くことができる

に頼るツァイス高速走査電子顕微鏡MultiSEM、91本の並列電子東の収集速度を十分に活用することができます。今では、ナノ解像度でセンチメートル級サンプルをイメージングすることができます。この優れた走査電子顕微鏡(SEM)は、7 x 24時間の連続的で信頼性の高い動作に特化して設計されています。高性能データ収集プロセスを簡単に設定するだけで、MutiSEMは独立して高コントラスト画像収集を自動的に完了することができる。成熟したZENイメージングソフトウェアを使用してMultiSEMを制御する:この高性能走査電子顕微鏡のすべての機能オプションを直感的かつ柔軟に管理することができます。

高速度とナノ解像度で画像を収集する

91本の電子東は同時に動作し、優れたイメージング速度を持っている。

1 mm 2の領域を数分でイメージングし、解像度は4 nmまで上昇した。

最適化された二次電子検出器を用いて、低信号対雑音比で高コントラスト画像を収集し、

大型サンプルの採取とイメージング

ツァイス高速走査電子顕微鏡MultiSEM10 cmx 10 cmサイズのサンプルを収容できるサンプルクリップを搭載

サンプル全体をイメージングし、すべての詳細を発見し、科学研究に役立てる。

大面積イメージングを実現する自動収集方式-可視情報を失わずに、微細なナノ画像を取得します。

ZENイメージングソフトウェア

成熟したZENソフトウェアを使用して簡単かつ直感的にMultiSEMを操作することができ、このソフトウェアはすべてのツァイスイメージングシステムに適用される

インテリジェントな自動調整機能により、高解像度と高コントラストで画像をキャプチャできます

サンプルの実際の状況に応じて、複雑な自動収集プロセスを迅速かつ容易に作成

MultiSEMMのZENソフトウェアは、高速で連続並列イメージングが可能

オープンなAPIソフトウェアインタフェースにより、柔軟で迅速なアプリケーション開発が可能

大体積サンプルの連続スライス断層スキャンのデータ取得

ATUMtomeを用いた自動切断樹脂被覆生物組織内に1000個までの連続スライスを収集

蔡司高速扫描电子显微镜MultiSEM