ZEISS Sigma電界放出走査電子顕微鏡

ZEISS Sigma電界放出走査電子顕微鏡高品質イメージングと分析のための葬司電界放出走査電子顕微鏡

柔軟な検出、4ステップワークフローの分析パフォーマンス

の分析性能と電界放出走査技術を結合し、成熟したGemin電子光学素子を利用する。複数の検出器を選択可能：粒子、表面、またはナノ構造のイメージングに使用します。Sigma半自動の4ステップワークフローは大量の時間を節約する：イメージングと分析ステップを設定し、効率を高める。

Sigma 300は性価比が高い。Sigma 500に搭載された後方散乱幾何検出器は、基礎解析を迅速かつ容易に実現することができる。いつでも、どのサンプルでも正確で再現可能な分析接合を得ることができます

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Siqmaシリーズ製品の詳細については、蔡司にお問い合わせください！

柔軟な検出器オプション、鮮明な画像を取得する

より新しいETSEとInlens検出器を用いて高真空下で高分解能表面形態情報を取得し、

VPSEまたはC 2 D検出器を用いて可変圧力モードで明瞭な画像を得た。

aSTEM検出器を用いて高分解能透過画像を生成する。

HDBSDまたはYAG検出器を用いて成分を解析する。

ユーザーフレンドリーで操作が簡単

SmartSEM Touchは既存のオペレーティングシステムの追加コンポーネントであり、マルチユーザー環境に使用され、操作経験の豊富な専門家ユーザーと初級ユーザーのために簡単な操作を同時に提供する簡潔なユーザーインタフェースです。

実際の実験室環境に基づいて、SEMの操作は電子顕微鏡専門家の専門分野である可能性がある。しかし、非専門ユーザー（例えば学生、研修を受けて間もない人や品質エンジニア）もSEMを使用してデータを取得する必要があるため、SEMを使用する必要もあります。Sigma 300とSigma 300 VPは、非専門ユーザーのニーズを考慮し、そのユーザーインタフェースオプションは、操作経験の豊富な顕微鏡専門家と顕微鏡初心者ユーザーの操作ニーズを満たすことができる。

特徴：

ZEISS Sigma電界放出走査電子顕微鏡による鮮明な画像形成のための柔軟な探査

先進的なプローブを使用して、あなたのニーズのためにSiqmaを製造し、すべてのサンプルを特徴づける

in−lens二重検出器を用いて形態と成分情報を取得する。

次世代の2次検出器を利用して、最大50%の信号画像を取得します。可変圧力モードでSiamaによる革新的なC 2 Dと可変圧力検出器を用いて、低真空環境で85%のコントラストまでの鋭い画像を取得した。