Xけいこうたくじょうめっきあつさけい

X蛍光スペクトル卓上めっき層厚測定器：正確な厚さ測定、エネルギー供給の多元業界

X蛍光スペクトル卓上めっき層厚測定器は*技術と便利な操作を一体化した高性能分析装置であり、めっき層厚測定分野で重要な役割を果たしている。

動作原理と特性

この装置はX線蛍光原理に基づいており、高エネルギーX線が試料表面に照射されると、めっき層中の元素が励起されて特徴的なX蛍光を生成する。これらの蛍光のエネルギーと強度を正確に分析することで、めっき層の厚さを正確に計算することができます。それは非破壊検査の顕著な優位性があり、サンプルを破壊する必要がなく、信頼できるデータを得ることができ、検査コストとサンプルに対する損失を大幅に削減した。同時に、その測定速度は速く、短時間で複数の点の測定を完了でき、検出効率を大幅に向上させることができる。

せいみつそくりょう

計器が備える良いの測定精度と分解能、金属及び非金属基体上の各種類のめっき層の厚さを正確に測定することができ、単層めっき層でも複雑な多層めっき構造でも、自由に対応することができる。測定範囲は広く、ナノメートル級からミリ級までのめっき層の厚さは正確に測定でき、異なる業界と応用の多様な需要を満たすことができる。

便利な操作と設計

デスクトップ設計を採用し、構造がコンパクトで、占有スペースが小さく、実験室や生産現場での柔軟な配置に便利である。操作インタフェースはフレンドリーで直感的で、大判カラータッチスクリーンを備えており、操作者は複雑なトレーニングを必要とせずに簡単に操作できる。計器はまた自動校正と故障診断機能を備え、測定結果の正確性と安定性を確保し、人為誤差と設備故障が検査作業に与える影響を減らす。

広範な応用分野

めっき業界では、企業がめっき層の厚さを厳格に制御し、製品の品質の一致性と安定性を保証するのに役立つ、電子製造分野では、回路基板、チップなどの微小部品上のめっき層の厚さを正確に測定し、電子製品の性能と信頼性を確保することができる、金物、自動車、航空宇宙などの業界では、部品のめっき品質検査にも広く応用され、製品の研究開発、生産過程の制御と品質制御に有力なデータサポートを提供している。

以下は深セン市天創美科技有限公司が販売するX蛍光分光器によるめっきめっき装置の試験詳細な説明：

めっき層の検査：

一般的な金属メッキ層は、

単層厚さ範囲：

金めっき層0−8 um、

クロムめっき層0 ~ 15 um、

残りは一般的に0 ~ 30 um以内であり、

最小0.001 umまで測定できます。

多層厚さ範囲：

Au/Ni/Cu：Au分析厚さ：0-8 um Ni分析厚さ：0-30 um

Sn/Ni/Cu：Sn分析厚さ：0-30 um Ni分析厚さ：0-30 um

Cr/Ni/Fe：Cr分析厚さ0〜15 um Ni分析厚さ：0〜30 um

めっき層数1 ~ 6層

めっき精度の相対差は一般的に5%未満である。

めっき成分含有量：Sn−Pb合金成分分析、Zn−Ni合金の成分分析。

めっき層の分析優勢：PCB金指の最小寸法を分析すると0.2 mmに達することができる

単層分析精度、Niを例に：（相対差）

元素成分分析：

めっき液の分析、現在よく見られるめっき液元素の分析は：金、銀、錫、銅、ニッケル、クロム、亜鉛。

ROHSとハロゲンフリー検出器、高性能SDD検出器はハロゲンフリーを検出でき、めっき層と環境保護の1機多用を実現する。

金属成分分析は、ROHSを検出すると同時に、金属中の他の各元素成分の含有量を検出することができる。

検出精度：

Cr、Cd、Hg、Cu、Zn、Fe、Ni、Pb、Mn、W、Au、Ag、Snなどの重金属

検出限界は1 ppmに達した。

これらの金属試験分析の安定した読み取り許容差本装置は以下の基準に達している：

A.検出量が5%を超える元素の安定した試験読み取りの相対差が1%未満

B.0.5〜5%の元素を含む安定した試験読取の相対差が2%未満であることを検出する

C.0.1〜0.5%の元素が安定していることを検出する試験読取の相対差は5%未満である

D.0.1%未満の検出含有量を有する元素試験の読み出し相対差変化率は10%未満

測定精度：

1）精度（単層）：

厚さ計の検出精度表

試験方法：同じ操作条件下で、同じ標準テンプレートを5回検査し、検出した平均データと標準テンプレートの実際のデータを比較する。検出精度は、検出平均値と標準サンプルの実際値との差（平均誤差）

2）二層以上：

2層以上の第1層精度は単層の試験結果に合致するが、第2層以上は複雑で、上の層の厚さに基づいて決定しなければならない。1層の厚さが2 um未満の場合、1層と2層の試験精度は基本的に単層の精度に合致し、以下の試験報告書を参照して1層の金標本厚さ0.101 um、2層目のニッケルの標本厚さは4.52 umである。

に 1層の厚さが2〜5 umの場合、2層目と3層目の試験精度が大幅に低下し、2層目の誤差率は5〜10%、3層目の誤差率は15%未満になる。

再現性：

再現性を保証する値：≤±5%

繰り返し性の検査は計器の校正後：同じ操作条件の下で、同じ検査サンプルを用いて連続繰り返し検査を行い、連続測定は同じ検査点の位置で60秒間隔を用いて、測定は全部で10回行い、毎回測定値と10回平均値を比較しなければならない。

繰返し性＝平均誤差÷平均値×100* %.

レポート印刷：

PDF、Excel形式でレポートを出力でき、履歴データの照会が便利

安全な使用、メンテナンスとメンテナンス

計器は非常に精密なので、許可されていない場合は計器の外殻を開けないでください。X線源と検出器を変えないでください。ユーザー自身の原因で計器が破損した場合、当社は責任を負いません。

器具の取り付けは必ず安定しなければならず、器具の後ろの壁からの距離は30センチを下回ってはならず、標準的な220 V交流を使用しなければならず、電圧不安定な状況には定電圧電源を備えなければならず、コンセントは接地が良好でなければならず、ユーザーの電源が要求に合わないことによる損失はユーザーが責任を負う。

濡れた手で電源部分に触れないでください。水を持った手も感電しないように機器の外殻に触れないでください。

測定を行う場合、高電圧がX線源に流れるため、器具の運転中はカバーを開けたり触ったりしないでください。高電圧ソースは自動運転またはユーザーガイドに従って中止する必要があるためです。

計器環境要求：計器使用環境は清潔である必要があり、温度は15℃~ 30℃、湿度に適している≤80%、電源：AC：220 V±5 V。

以上の詳細はいずれも結果を予測できない可能性があり、買い手は基本的に遵守しなければならない。

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