xめっき層厚計

Xスペクトルめっき層厚測定器：精密測定、エネルギー供給多元工業検査

Xスペクトルめっき層厚測定器は*X線蛍光スペクトル分析技術に基づく高精度測定装置であり、めっき、塗装、半導体、金物製造など多くの業界に広く応用され、めっき層厚の正確な測定に信頼性のあるソリューションを提供している。

動作原理とコアメリット

この装置の動作原理は、X線と物質との相互作用による蛍光効果に基づいている。高エネルギーX線が試料表面に照射されると、めっき層中の元素が励起され、特定のエネルギーを持つ二次X線、すなわち特徴X線が放出される。これらの特性X線のエネルギーと強度を正確に分析することにより、装置はめっき層の厚さを正確に計算することができる。その核心優位性は顕著で、非破壊性検査はそのハイライトであり、サンプルを切断したり破損したりする必要はなく、厚さデータを取得し、サンプルの完全性を保持し、特に貴重なまたはサンプルの検査に適している。同時に、測定速度が速く、短時間で単点または多点測定を完成でき、検査効率を大幅に高め、大規模生産の品質制御需要を満たすことができる。

多元機能と正確な測定

Xスペクトルめっき層厚測定器は強大な機能を備えており、単層、多層及び合金めっき層の厚さを測定でき、めっき層の成分を分析することもできる。その測定範囲は広く、ナノメートル級からミリ級までのめっき層の厚さは正確に測定でき、精度は±0.01μmに達し、測定結果の正確性と信頼性を確保した。設備には直感的な操作インタフェースとインテリジェント化されたソフトウェアシステムが搭載されており、操作者は深い専門知識を持つ必要はなく、簡単な訓練を経て簡単に手に入れることができる。ソフトウェアはまたデータ記憶、分析と報告生成機能を備え、ユーザーが測定データの管理と遡及を容易にする。

多様な環境への適応と信頼性の確保

環境に適応する面で、この設備は優れており、異なる温度、湿度と粉塵環境の下で安定して動作することができ、作業場、実験室などの多種の場所に適している。また、設備は高品質のX線管と検出器を採用し、長い寿命と良好な安定性を持ち、設備のメンテナンスコストと停止時間を削減した。同時に、厳格な安全防護設計は、X線漏れを効果的に防止し、操作者の安全を保障した。

Xスペクトルめっき層厚測定器はその*の技術、良いの性能と便利な操作は、工業生産におけるめっき層の厚さ測定の理想的な選択となり、製品の品質を向上させ、生産プロセスを最適化するために有力な支持を提供した。

以下は深セン市天創美科技有限公司が販売するX蛍光分光器によるめっきめっき装置の試験詳細な説明：

めっき層の検査：

一般的な金属メッキ層は、

単層厚さ範囲：

金めっき層0−8 um、

クロムめっき層0 ~ 15 um、

残りは一般的に0 ~ 30 um以内であり、

最小0.001 umまで測定できます。

多層厚さ範囲：

Au/Ni/Cu：Au分析厚さ：0-8 um Ni分析厚さ：0-30 um

Sn/Ni/Cu：Sn分析厚さ：0-30 um Ni分析厚さ：0-30 um

Cr/Ni/Fe：Cr分析厚さ0〜15 um Ni分析厚さ：0〜30 um

めっき層数1 ~ 6層

めっき精度の相対差は一般的に5%未満である。

めっき成分含有量：Sn−Pb合金成分分析、Zn−Ni合金の成分分析。

めっき層の分析優勢：PCB金指の最小寸法を分析すると0.2 mmに達することができる

単層分析精度、Niを例に：（相対差）

元素成分分析：

めっき液の分析、現在よく見られるめっき液元素の分析は：金、銀、錫、銅、ニッケル、クロム、亜鉛。

ROHSとハロゲンフリー検出器、高性能SDD検出器はハロゲンフリーを検出でき、めっき層と環境保護の1機多用を実現する。

金属成分分析は、ROHSを検出すると同時に、金属中の他の各元素成分の含有量を検出することができる。

検出精度：

Cr、Cd、Hg、Cu、Zn、Fe、Ni、Pb、Mn、W、Au、Ag、Snなどの重金属

検出限界は1 ppmに達した。

これらの金属試験分析の安定した読み取り許容差本装置は以下の基準に達している：

A.検出量が5%を超える元素の安定した試験読み取りの相対差が1%未満

B.0.5〜5%の元素を含む安定した試験読取の相対差が2%未満であることを検出する

C.0.1〜0.5%の元素が安定していることを検出する試験読取の相対差は5%未満である

D.0.1%未満の検出含有量を有する元素試験の読み出し相対差変化率は10%未満

測定精度：

1）精度（単層）：

厚さ計の検出精度表

試験方法：同じ操作条件下で、同じ標準テンプレートを5回検査し、検出した平均データと標準テンプレートの実際のデータを比較する。検出精度は、検出平均値と標準サンプルの実際値との差（平均誤差）

2）二層以上：

2層以上の第1層精度は単層の試験結果に合致するが、第2層以上は複雑で、上の層の厚さに基づいて決定しなければならない。1層の厚さが2 um未満の場合、1層と2層の試験精度は基本的に単層の精度に合致し、以下の試験報告書を参照して1層の金標本厚さ0.101 um、2層目のニッケルの標本厚さは4.52 umである。

に 1層の厚さが2〜5 umの場合、2層目と3層目の試験精度が大幅に低下し、2層目の誤差率は5〜10%、3層目の誤差率は15%未満になる。

再現性：

再現性を保証する値：≤±5%

繰り返し性の検査は計器の校正後：同じ操作条件の下で、同じ検査サンプルを用いて連続繰り返し検査を行い、連続測定は同じ検査点の位置で60秒間隔を用いて、測定は全部で10回行い、毎回測定値と10回平均値を比較しなければならない。

繰返し性＝平均誤差÷平均値×100* %.

レポート印刷：

PDF、Excel形式でレポートを出力でき、履歴データの照会が便利

安全な使用、メンテナンスとメンテナンス

計器は非常に精密なので、許可されていない場合は計器の外殻を開けないでください。X線源と検出器を変えないでください。ユーザー自身の原因で計器が破損した場合、当社は責任を負いません。

器具の取り付けは必ず安定しなければならず、器具の後ろの壁からの距離は30センチを下回ってはならず、標準的な220 V交流を使用しなければならず、電圧不安定な状況には定電圧電源を備えなければならず、コンセントは接地が良好でなければならず、ユーザーの電源が要求に合わないことによる損失はユーザーが責任を負う。

濡れた手で電源部分に触れないでください。水を持った手も感電しないように機器の外殻に触れないでください。

測定を行う場合、高電圧がX線源に流れるため、器具の運転中はカバーを開けたり触ったりしないでください。高電圧ソースは自動運転またはユーザーガイドに従って中止する必要があるためです。

計器環境要求：計器使用環境は清潔である必要があり、温度は15℃~ 30℃、湿度に適している≤80%、電源：AC：220 V±5 V。

以上の詳細はいずれも結果を予測できない可能性があり、買い手は基本的に遵守しなければならない。

xめっき層厚計