ようこそお客様!

メンバーシップ

ヘルプ

深セン市天創美科技有限公司
カスタムメーカー

主な製品:

化学17>製品

深セン市天創美科技有限公司

  • メール

    jisong0988@163.com

  • 電話番号

    13534231905

  • アドレス

    広東省深セン市福田区梅林多麗工業区

今すぐ連絡してください

表面めっき層厚計の非破壊検査

交渉可能更新12/24
モデル
製造者の性質
プロデューサー
製品カテゴリー
原産地
概要
表面めっき層厚測定器の非破壊検出$r$n表面めっき層厚測定器は非破壊検出装置として、優位性が顕著である。渦電流、X線蛍光などの*原理を用いて、めっきサンプルを破壊する必要がなく、めっき層の厚さを正確に測定することができる。操作が便利で、迅速にデータを得ることができ、金属及び一部の非金属基材上の各種めっき層を検出することができる。電子、自動車、金物などの業界で広く応用され、企業が製品の品質を厳格にコントロールし、生産効率と製品の信頼性を高めることを支援する。
製品詳細

表面めっき層厚計の非破壊検査

表面めっきめっき層厚測定器——非破壊検査分野の精密利器

めっき加工、材料科学及び品質制御などの多くの分野で、表面めっき層の厚さを正確に測定することは製品の品質、性能の安定を確保する重要な一環である。表面めっき層厚測定器は*の非破壊検出装置として、ますます重要な役割を果たしている。

コア原理と技術的優位性

表面めっきめっき層厚測定器は主に多種の物理原理に基づいて厚さ測定を行い、よく見られるのは磁性法、渦電流法、β線逆散乱法及びX線蛍光法などである。磁性法は強磁性基体上の非磁性めっき層、例えば鉄鋼上の亜鉛、銅めっき層の測定に適し、磁気回路中の磁気抵抗の変化を測定することによってめっき層の厚さを推定する、渦電流の法則は非磁性金属基体上の非導電めっき層、例えばアルミニウム上のペンキ、プラスチックめっき層に用いられ、電磁誘導原理を利用して渦電流を発生し、渦電流の変化に基づいて厚さを確定する。これらの方法はいずれも被測定物を破壊する必要がなく、真の非破壊検出を実現した。

パフォーマンスと便利な操作

この厚さ測定器は高精度、高解像度の特徴を備えており、ミクロンレベルまで正確であり、各種の厳しい検査需要を満たすことができる。その測定速度は速く、短時間で大量のサンプルの検査を完了でき、作業効率を大幅に向上させることができる。設備の設計はコンパクトで、異なる検査現場への携帯に便利で、生産ラインのリアルタイムモニタリングでも、実験室の精密分析でも、簡単に対応することができる。操作インタフェースは簡潔で直感的で、大画面カラーディスプレイを搭載しており、専門家でなくても迅速に操作でき、正確なデータを簡単に取得できます。

広範な応用分野

めっき業界では、厚さ測定器は企業がめっき層の厚さを厳格に制御するのを助け、製品が品質基準に合うことを確保し、めっき層の厚さや薄さによる性能の低下、コストの増加などの問題を回避することができる。自動車製造分野では、車体部品の防腐めっき層厚を測定し、車両の耐久性と安全性を保障するために用いられる。航空宇宙、電子機器などの業界では、同様にその正確な測定能力によって、製品の品質を守る。

表面めっきめっき層厚測定器はその*の非破壊検査技術、良いの性能表現と広範な応用分野は、現代工業生産における良いの品質検査ツールを使用します。それは企業が製品の品質を高め、コストを下げるのを助けるだけでなく、関連業界のより高い基準、より精密化の方向への発展を推進した。

以下はX蛍光分光計によるめっきめっき層の試験装置である詳細な説明

めっき層の検査:

一般的な金属メッキ層は、

めっきそう

マトリックス

ニ-P

ティ

Cu

SN

Sn-Pb の

Zn の

Cr の

アウ

Zn-Ni の

アグ

Pd の

Rh の

アル

Cu


Zn の


フェ

SUS

単層厚さ範囲:

金めっき層0−8 um、

クロムめっき層0 ~ 15 um、

残りは一般的に0 ~ 30 um以内であり、

最小0.001 umまで測定できます。

多層厚さ範囲:

Au/Ni/Cu:Au分析厚さ:0-8 um Ni分析厚さ:0-30 um

Sn/Ni/Cu:Sn分析厚さ:0-30 um Ni分析厚さ:0-30 um

Cr/Ni/Fe:Cr分析厚さ0〜15 um Ni分析厚さ:0〜30 um

めっき層数1 ~ 6層

めっき精度の相対差は一般的に5%未満である。

めっき成分含有量:Sn−Pb合金成分分析、Zn−Ni合金の成分分析。

めっき層の分析優勢:PCB金指の最小寸法を分析すると0.2 mmに達することができる

単層分析精度、Niを例に:(相対差)

そうあつさ(um)

保証精度

<1.0um>

<5%

1.0〜5.0um

<3%

5.0〜10um

<3%

10〜20um

<3%

> 20.0um

<3%

元素成分分析:

めっき液の分析、現在よく見られるめっき液元素の分析は:金、銀、錫、銅、ニッケル、クロム、亜鉛。

ROHSとハロゲンフリー検出器、高性能SDD検出器はハロゲンフリーを検出でき、めっき層と環境保護の1機多用を実現する。

金属成分分析は、ROHSを検出すると同時に、金属中の他の各元素成分の含有量を検出することができる。

検出精度:

Cr、Cd、Hg、Cu、Zn、Fe、Ni、Pb、Mn、W、Au、Ag、Snなどの重金属

検出限界は1 ppmに達した。

これらの金属試験分析の安定した読み取り許容差本装置は以下の基準に達している:

A.検出量が5%を超える元素の安定した試験読み取りの相対差が1%未満

B.0.5〜5%の元素を含む安定した試験読取の相対差が2%未満であることを検出する

C.0.1〜0.5%の元素が安定していることを検出する試験読取の相対差は5%未満である

D.0.1%未満の検出含有量を有する元素試験の読み出し相対差変化率は10%未満

測定精度:

1)精度(単層):

厚さ計の検出精度表

そうあつさ(um)

せいど

<1.0um>

<5%

1.0〜5.0um

<3%

5.0〜10um

<3%

10〜20um

<3%

> 20.0um

<3%

試験方法:同じ操作条件下で、同じ標準テンプレートを5回検査し、検出した平均データと標準テンプレートの実際のデータを比較する。検出精度は、検出平均値と標準サンプルの実際値との差(平均誤差)

2)二層以上:

2層以上の第1層精度は単層の試験結果に合致するが、第2層以上は複雑で、上の層の厚さに基づいて決定しなければならない。1層の厚さが2 um未満の場合、1層と2層の試験精度は基本的に単層の精度に合致し、以下の試験報告書を参照して1層の金標本厚さ0.101 um、2層目のニッケルの標本厚さは4.52 umである。

1層の厚さが2〜5 umの場合、2層目と3層目の試験精度が大幅に低下し、2層目の誤差率は5〜10%、3層目の誤差率は15%未満になる。

再現性:

再現性を保証する値:±5%

繰り返し性の検査は計器の校正後:同じ操作条件の下で、同じ検査サンプルを用いて連続繰り返し検査を行い、連続測定は同じ検査点の位置で60秒間隔を用いて、測定は全部で10回行い、毎回測定値と10回平均値を比較しなければならない。

繰返し性=平均誤差÷平均値×100* %.

レポート印刷:

PDF、Excel形式でレポートを出力でき、履歴データの照会が便利

安全な使用、メンテナンスとメンテナンス

計器は非常に精密なので、許可されていない場合は計器の外殻を開けないでください。X線源と検出器を変えないでください。ユーザー自身の原因で計器が破損した場合、当社は責任を負いません。

器具の取り付けは必ず安定しなければならず、器具の後ろの壁からの距離は30センチを下回ってはならず、標準的な220 V交流を使用しなければならず、電圧不安定な状況には定電圧電源を備えなければならず、コンセントは接地が良好でなければならず、ユーザーの電源が要求に合わないことによる損失はユーザーが責任を負う。

濡れた手で電源部分に触れないでください。水を持った手も感電しないように機器の外殻に触れないでください。

測定を行う場合、高電圧がX線源に流れるため、器具の運転中はカバーを開けたり触ったりしないでください。高電圧ソースは自動運転またはユーザーガイドに従って中止する必要があるためです。

計器環境要求:計器使用環境は清潔である必要があり、温度は15℃~ 30℃、湿度に適している80%、電源:AC:220 V±5 V。

以上の詳細はいずれも結果を予測できない可能性があり、買い手は基本的に遵守しなければならない。


表面めっき層厚計の非破壊検査