たくじょうごうきんめっきあつさけい

卓上合金メッキ層厚測定器：精密測定、エネルギー供給品質管理制御

卓上合金めっき層厚測定器は合金材料の表面めっき層厚を正確に測定するために設計された高精度検査設備であり、電子、金物、自動車、航空宇宙など多くの業界に広く応用され、製品品質の安定と向上に重要なサポートを提供している。

*正確で信頼性の高い測定原理

この測定器は主に磁性法、渦電流法、X線蛍光分光法などの原理に基づいて測定を行う。磁性法は強磁性基体上の非磁性めっき層、例えば鉄鋼上の亜鉛、ニッケルめっき層、渦電流の法則は非強磁性基体上の導電性めっき層に用いられ、例えば銅、アルミニウム上の金、銀めっき層、X線蛍光分光法は多種の金属めっき層に対して無傷検査を行うことができ、しかも基材の磁性と導電性に制限されない。これらの＊原理の融合は、異なる材質とめっき層の組み合わせの下で設備が高精度の測定を実現することを確保し、測定誤差は極めて小さく、製品品質の厳格な制御に堅固なデータ基礎を提供した。

操作が便利で、効率的な検査

デスクトップ設計により、設備の安定性が高く、操作スペースが十分です。計器は直感的な操作インタフェースを備え、大画面に測定データと図形を表示し、操作者は複雑な訓練を必要とせずに迅速に手に入れることができる。測定時、試料を測定台に置き、プローブ位置を調整するだけで、計器は自動的に測定を完了し、結果を表示し、検査効率を大幅に向上させることができる。同時に、設備はまたデータ記憶と導出機能を備え、ユーザーが測定データを記録、分析、遡及することを便利にし、生産過程の最適化と品質改善に有力な根拠を提供する。

適応性が高く、応用が広い

微小精密部品でも大型ワークでも、卓上合金めっき層厚計は簡単に対応できる。その調整可能な測定範囲と多種のプローブ配置は、異なる厚さのめっき層の測定需要を満たすことができる。電子業界では、プリント基板上の金メッキ、錫メッキ層の厚さを測定し、電気接続の信頼性を確保するために使用されている、自動車製造において、自動車部品の亜鉛めっき、クロムめっき層を測定し、製品の耐食性を高める、航空宇宙分野では、重要部品の特殊めっき層を精密に検査し、飛行の安全を保障する。

品質良い、安定した耐久性

設備は高品質の材料と*の製造技術を採用し、良好な安定性と耐干渉能力を持ち、複雑な工業環境の中で長期的に安定して運行することができる。同時に、完全なアフターサービスシステムはユーザーにタイムリーな技術サポートとメンテナンスを提供し、設備が常に優良な仕事状態にあることを確保し、ユーザーにより大きな価値を創造する。

以下はX蛍光分光計によるめっきめっき層の試験装置である詳細な説明：

めっき層の検査：

一般的な金属メッキ層は、

単層厚さ範囲：

金めっき層0−8 um、

クロムめっき層0 ~ 15 um、

残りは一般的に0 ~ 30 um以内であり、

最小0.001 umまで測定できます。

多層厚さ範囲：

Au/Ni/Cu：Au分析厚さ：0-8 um Ni分析厚さ：0-30 um

Sn/Ni/Cu：Sn分析厚さ：0-30 um Ni分析厚さ：0-30 um

Cr/Ni/Fe：Cr分析厚さ0〜15 um Ni分析厚さ：0〜30 um

めっき層数1 ~ 6層

めっき精度の相対差は一般的に5%未満である。

めっき成分含有量：Sn−Pb合金成分分析、Zn−Ni合金の成分分析。

めっき層の分析優勢：PCB金指の最小寸法を分析すると0.2 mmに達することができる

単層分析精度、Niを例に：（相対差）

元素成分分析：

めっき液の分析、現在よく見られるめっき液元素の分析は：金、銀、錫、銅、ニッケル、クロム、亜鉛。

ROHSとハロゲンフリー検出器、高性能SDD検出器はハロゲンフリーを検出でき、めっき層と環境保護の1機多用を実現する。

金属成分分析は、ROHSを検出すると同時に、金属中の他の各元素成分の含有量を検出することができる。

検出精度：

Cr、Cd、Hg、Cu、Zn、Fe、Ni、Pb、Mn、W、Au、Ag、Snなどの重金属

検出限界は1 ppmに達した。

これらの金属試験分析の安定した読み取り許容差本装置は以下の基準に達している：

A.検出量が5%を超える元素の安定した試験読み取りの相対差が1%未満

B.0.5〜5%の元素を含む安定した試験読取の相対差が2%未満であることを検出する

C.0.1〜0.5%の元素が安定していることを検出する試験読取の相対差は5%未満である

D.0.1%未満の検出含有量を有する元素試験の読み出し相対差変化率は10%未満

測定精度：

1）精度（単層）：

厚さ計の検出精度表

試験方法：同じ操作条件下で、同じ標準テンプレートを5回検査し、検出した平均データと標準テンプレートの実際のデータを比較する。検出精度は、検出平均値と標準サンプルの実際値との差（平均誤差）

2）二層以上：

2層以上の第1層精度は単層の試験結果に合致するが、第2層以上は複雑で、上の層の厚さに基づいて決定しなければならない。1層の厚さが2 um未満の場合、1層と2層の試験精度は基本的に単層の精度に合致し、以下の試験報告書を参照して1層の金標本厚さ0.101 um、2層目のニッケルの標本厚さは4.52 umである。

に 1層の厚さが2〜5 umの場合、2層目と3層目の試験精度が大幅に低下し、2層目の誤差率は5〜10%、3層目の誤差率は15%未満になる。

再現性：

再現性を保証する値：≤±5%

繰り返し性の検査は計器の校正後：同じ操作条件の下で、同じ検査サンプルを用いて連続繰り返し検査を行い、連続測定は同じ検査点の位置で60秒間隔を用いて、測定は全部で10回行い、毎回測定値と10回平均値を比較しなければならない。

繰返し性＝平均誤差÷平均値×100* %.

レポート印刷：

PDF、Excel形式でレポートを出力でき、履歴データの照会が便利

安全な使用、メンテナンスとメンテナンス

計器は非常に精密なので、許可されていない場合は計器の外殻を開けないでください。X線源と検出器を変えないでください。ユーザー自身の原因で計器が破損した場合、当社は責任を負いません。

器具の取り付けは必ず安定しなければならず、器具の後ろの壁からの距離は30センチを下回ってはならず、標準的な220 V交流を使用しなければならず、電圧不安定な状況には定電圧電源を備えなければならず、コンセントは接地が良好でなければならず、ユーザーの電源が要求に合わないことによる損失はユーザーが責任を負う。

濡れた手で電源部分に触れないでください。水を持った手も感電しないように機器の外殻に触れないでください。

測定を行う場合、高電圧がX線源に流れるため、器具の運転中はカバーを開けたり触ったりしないでください。高電圧ソースは自動運転またはユーザーガイドに従って中止する必要があるためです。

計器環境要求：計器使用環境は清潔である必要があり、温度は15℃~ 30℃、湿度に適している≤80%、電源：AC：220 V±5 V。

以上の詳細はいずれも結果を予測できない可能性があり、買い手は基本的に遵守しなければならない。

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