超高速知能粒度分析器

超高速知能粒度分析器は粒子の回折あるいは散乱光の空間分布を通じて粒子の大きさを分析する器具であり、Furanhofer回折とMie散乱理論を採用し、試験過程は温度変化、媒体粘度、試料密度と表面状態など多くの要素の影響を受けず、測定すべき試料をレーザービームに均一に表現すれば、得られる試験結果である。

超高速知能粒度分析器は粒子の回折あるいは散乱光の空間分布を通じて粒子の大きさを分析する器具であり、Furanhofer回折とMie散乱理論を採用し、試験過程は温度変化、媒体粘度、試料密度と表面状態など多くの要素の影響を受けず、測定すべき試料をレーザービームに均一に表現すれば、得られる試験結果である。

現在超高速知能粒度分析器試験過程ではいずれも遮光度の選択に直面しており、一般的に遮光度とは超高速知能粒度分析器を用いて試料を試験する際に、配置された試料懸濁液の濃度であり、遮光度の正確な選択は超高速知能粒度分析器の粒度試験過程における重要なステップであり、遮光度が適切かどうか、あるいは測定された試料の濃度が適切かどうかは粒度測定結果の性と代表性に重大な関係がある。

超高速知能粒度分析器の測定原理は試験過程において、サンプルの濃度はサンプル中の粒子間に二次散乱が発生しないことを原則とし、理論的には懸濁液または空気中の粒子間の距離が粒子直径の3倍であることを要求するが、この要求は非常に把握しにくいため、実際の粒度試験では、遮光比の数値を調整することにより、できるだけ粒子間に二次散乱が発生しないようにする。遮光比は大きすぎるか小さすぎるべきではなく、遮光比が大きすぎると、粒子の濃度が高すぎて、二次散乱が発生しやすく、測定結果の誤差が増大する、遮光比が低すぎて、サンプル中の粒子の濃度が低すぎて、粒子数が少なすぎて、テスト結果の代表性がとても悪くて、甚だしきに至ってはテスト結果が無効なことを招くかもしれなくて、そのためテストの過程で、遮光比の選択は繰り返しテストを通じて、正しい測定結果を得ることができます。

一般的に、比較的太いサンプルでは、遮光比は10 ~ 20%、通常は5 ~ 20%、超微細なサンプルについては、サンプルの遮光比を適切に下げることができますが、一般的には40%を超えないでください。これらは実験で得られた経験的な数値ですが、実験を繰り返して、サンプル試験時の遮光比に対応する*数値を見つける必要があります。