レーザ粒度分析器

真理光学技術チームは一貫した科学精神と技術革新能力を維持し、30年余りの粒子特徴理論研究、技術革新と応用経験を基礎に、従来のLT 3600 PlusとLT 2200技術をさらに向上させ、盛大に発売したLT3900レーザ粒度分析器。

LT 3900独自の革新的なテクノロジーと機能には、次のものがあります。

●無回折照明光学モジュール

●超大角散乱光増強技術

●弱散乱光干渉防止技術

●後方散乱角拡張技術

●屈折率計算機能

●テストレポート形式ユーザ独自編集機能

●AI最適化機能

●データ自動バックアップ機能（バックアップパスと時間はユーザーが指定可能）

LT 3900はLT 3600 PlusとLT 2200の優れた設計を維持し続ける：

●統合された粒度解析モデル（ユーザーが「解析モデル」を選択する必要はありません）

●回折エリスリウム異常変化（ACAD）の補償補正技術

●斜置測定窓技術

●光ファイバ偏光フィルタリング技術

●単一光源、多光源のデータ接合の問題を回避

●レンズ交換不要のフルレンジ「ワンミラーボトム」

●散乱光のサンプリングレートは最大20 kHzに達し、形状や大きさの散乱光情報を漏らさない

●自動恒温技術を用いた超高安定固体レーザ光源モジュールは、ヘリウムネオンガスレーザの予熱時間が長く、使用寿命が短いという欠点を徹底的に克服し、粒径測定の繰り返し性を大幅に高めた

●レーザー回折法粒度計の国際標準ISO 13320と国家標準GB/T 41949-2022に完全に適合

●真理光学製品に適合するすべての注入装置

LT 3900の優れたパフォーマンスの実測データ検証

●測定されたサンプルD 50の値は40 nmから3000μmまで、タイプは単分散ラテックス球とガラス微小ビーズがあり、統一された反転モデル（ユーザーは選択する必要がないので、無感）を用いて徹底的に測定し、正確に測定した。

●国家基準「GB/T 41949-2022レーザー粒度計技術要求」の測定下限の定義と検証要求に基づき、単分散標本D 50値は40 nmに達し、この基準の上限を参照して3000μmに達した。

赤インクの粒度分布ガラスビーズの粒度分布

LT 3900の*性まとめ

●10 nm（D 50値40 nm）から4000μm（D 50値3000μm）まで、徹底的に鏡で測定し、正確に測定する

●繰り返し性が優れており、D 50の繰り返し偏差は1%よりはるかに小さいことが多い

●トレース可能な単分散ラテックス微小球標本、ユーザーの各種サンプルを含むがこれらに限定されないいかなる種類のサンプルに対しても、統一的なデータ分析モデルを採用し、測定過程の科学性を確保した

ホスト原理図

メモ：*本文に関連する特許技術は当社の製品性能のために使用する必要があり、下記の一部または全部の特許技術に限らず、最終的な解釈権は真理光学に帰属する。真理光学はZL201720195784.7/ZL201720374474.1/ZL201720189750.7/ZL201621332818.4/ZL201810552388.4/ZL201921219223.1/ZL201911071791.6/ZL202121718637.6/ZL202122186274.2特許権者。