セマー飛Nexsa X線光電子分光器

セマー飛Nexsa X線光電子分光器説明：

セマー飛Nexsa X線光電子分光器材料分析と開発

Nexsaエネルギー分光器は分析の柔軟性があり、材料の潜在能力を最大限に発見することができる。結果を研究レベルの品質レベルに維持しながら、オプションの多技術連合の形で柔軟性を提供し、真の意味での多技術連合の分析検出と高スループットを実現する。

標準化された機能が強力なパフォーマンスを生む：

・絶縁体解析

・高性能XPS性能

・深さ解析

・多技術連携

・深さ解析機能を拡張するデュアルモードイオン源

・ARXPS測定用傾斜モジュール

・機器制御、データ処理、レポート作成のためのAvantageソフトウェア

・小ビームスポット解析

オプションのアップグレード：複数の分析テクノロジーを検出分析に統合できます。式自動運転

・ISS：イオン散乱スペクトル、材料の最表面1-2原子層元素情報を分析し、質量分解により同位体存在度情報を分析することができる。

・UPS：紫外光電子分光法による金属／半導体材料の価電子帯エネルギー準位構造情報及び材料表面仕事関数情報の分析

ラマン：ラマン分光技術は分子構造レベルの指紋情報を提供するために用いられる

・REELS：反射電子エネルギー損失スペクトルはH元素含有量の検出及び材料エネルギー準位構造とバンドギャップ情報に用いることができる

SnapMapの光学的ビューを用いて、サンプル特徴に焦点を当てた。光学ビューを使用すると、関心のある領域をすばやく配置し、さらに実験を設定するためにフォーカスされたXPS画像を生成できます。

1.X線照射試料上の小さな領域。

2.この小領域からの光電子を収集し、分析器に収集する

3.試料台の移動に伴い、絶えず元素スペクトルを収集する

4.データ収集の全過程において試料台の位置を監視し、これらの位置のスペクトルイメージングを用いてSnapMapを生成する

セマー飛Nexsa X線光電子分光器応用分野

・バッテリー

・バイオ医薬

・触媒

・セラミックス

・ガラスコーティング

・グラフェン

・金属と酸化物

・ナノ材料

・OLED

・ポリマー

・半導体

・太陽電池

・フィルム