サイマー飛EscaLab Xi+X線光電子分光器

サイマー飛EscaLab Xi+X線光電子分光器解析パフォーマンス：

●表面元素の定性、定量分析

エネルギー分析器の設計と双晶微小集束単色化X線源の結合により、エネルギー分解能を実現した

●高速高分解平行イメージング

化学イメージング：空間分解能が1 umより優れている

遡及スペクトル：遡及領域は6 umより優れている

●バックグラウンド補正検出器不要

電子増倍器と抵抗陽極検出器の二重検出器設計は、高性能なXPSスペクトルと高空間分解されたXPS成像の需要を実現することができる。

空間連続抵抗陽極検出器の革新技術により、XPIイメージングの解像度は1 umに達し、同時に得られたデータは検出器のバックグラウンド特徴がなく、バックグラウンド補正が必要なく、直接ミクロンスケール分解の定量元素分布イメージング結果を得た。

●マイクロフォーカスモノクロソース

解析サイズは20μm～900μmの間で連続的に調整可能

感度とエネルギー分解能

20個以上のターゲットの動作点を提供し、計器の生涯使用中に陽極ターゲットを交換する必要がないことを確保する

●自動化高効率イオン分析源

新型Arイオンクラスターと伝統的な単粒子イオン源を結合し、各種材料の深さ分析研究に用いる

●高精度角度分解XPS

ソフトウェアは分析位置と角度を制御し、データの正確性と重複性を確保する

ナノスケールの多層構造素子に対して層厚計算を行うことができる完全なARXPSデータ処理ツール

●ワンタッチ荷電補償

2ビーム電荷中和システムを備えており、実際のサンプルの必要に応じて独立にオンを制御することができる。

すべての非導電性試料及び粗面の正確な荷電中和に適している

●強力なAvantage解析ソフトウェア

フルディジタル化機器制御

システムソフトウェアの視覚化操作

完全なXPS標準データギャラリー及び化合物構造鑑定データベース

レポート生成モードへのデータ収集のカスタマイズ

サイマー飛EscaLab Xi+X線光電子分光器操作が簡単：

●高度な自動化

解析領域と角度分解オプション

自動ガス調整と真空制御

●随時キャリブレーション

エネルギースケールと計器仕事関数の較正

イオン銃の位置決めとイオンビーム集束

●マウスクリック式サンプルナビゲーション

リアルタイム表示解析位置

高照明強度、強度調整可能

サイマー飛EscaLab Xi+X線光電子分光器柔軟な設計

●ISS、ARXPS、REELSが標準構成

●多機能注入室は標準配置

●UPSとEDS/AES/SEM/SAM/オプション

・オプションのサンプル前処理添付ファイル。以下を含む：

サンプル調製台、結晶クリーナ、サンプルブレード

サンプル加熱/冷却装置

スパッタ清浄イオン銃

じょうはつき

こうあつはんのうしつ