ナノ粒子度分析器

交渉可能更新01/08

モデル

製造者の性質: プロデューサー

製品カテゴリー

原産地

オンラインコンサルト

概要

Nanolink S 901シリーズは真理光学がSZ 900を基礎に長年の科学研究成果に基づいて開発した次世代ナノ粒子度分析システムであり、動的光散乱（DLS）技術を用いてナノ粒子度測定を行い、有機または無機ナノ粒子、エマルジョン、高分子ポリマー、ミセル、ウイルス抗体およびタンパク質などのサンプルの粒子特性評価およびサンプルシステムの安定性および粒子凝集傾向の検出と分析に広く応用されている。

製品詳細

ナノリンクS901のパフォーマンスと主な特徴は次のとおりです。

◆ クラシック90°動的光散乱技術による粒径測定、測定範囲被覆03nm - 15μm

◆ 加持自動恒温技術の電力は50mW, 波長638nmの固体レーザー光源、器具はすぐに使用する

◆ レーザ光源と照明光及び参照光の一体化及び光ファイバ分光技術

◆ 信号光と参照光の光ファイバ合束及び干渉技術

◆ 集積ファイバ技術の高感度と極低暗電流(20cps）のフォトン検出器

◆ 通常の温度制御範囲は-15°C ~ 120°C、精度±0.1°Cに達することができる

◆ 次世代高速デジタル相関器、ダイナミックレンジがより大きい10¹¹

◆ ぎょうけつせいぎょ –乾燥ガスパージ技術

技術指標：

そくていげんり	動的光散乱（DLS）、静的光散乱（SLS）、電気泳動光散乱（ELS）
粒径測定角度	90°，12°（Zeta電位）
粒子径測定範囲	0.3nm -15um*
粒径測定最小サンプル量	3UL*
粒径測定最小サンプル濃度	0.1ミリグラム/ml
粒径測定最大サンプル濃度	40%/WV**
検出点位置	入射点から0 ~ 5 mm調整可能
検出点位置決め精度	0.01ミリメートル
Zeta電位測定技術	コサインフィッティング位相解析法（CF−PAS）
Zeta電位測定範囲	実際の制限なし
Zeta電位測定に適した粒子径	1nm〜120μm*
移動度範囲	最小0、最大実制限なし
最大伝導率	270mS/cm
でんきょく	挿入式平板電極、U型キャピラリー電極
分子量範囲	340ダ-2x10⁷ダ
その他の高度な測定/計算機能	誘電体粘度、屈折率、試料透過率/濃度、第2次元利係数、粒子間相互作用力係数及び凝集度指数
光源	統合恒温システムと光ファイバ結合の最大電力50mW,波長638 nm固体レーザ
光強度調整範囲	自動調整、0.0001%～100%
相関器	高速デジタル相関器、アダプティブチャネル構成
検出器	高感度APD
温度制御範囲	-15°C〜120°C
温度制御精度	±0.1°C
サンプリング方式	手動
サンプルプール	12 mm比色皿、3μLキャピラリー超微量サンプルプール、40μL微量サンプルプール
環境要件	5-40℃、10-80%相対湿度（結露なし）
動作電源	AC100V-240V，標準接地、直流電源給電24 V/5 A
システム重量	20キロ
外形寸法	430mm x 512mm x 230mm（LxWxH）

メモ：*サンプルおよびサンプルプールのオプションによって異なります**測定角度によって異なります

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