LDJC電圧破壊試験器電気絶縁強度試験器

プロフィール

ポリアミド6（PA6）広範に応用されているエンジニアリングプラスチックであり、改質を強化するのはPA6重要な改質手段、改質を強化したものPA6電子電気T業界では、絶縁ソケット、支持フレーム、ハウジングなどのデバイスの製造に使用できます。工業周波数絶縁材料にとって、誘電強度は重要な性能指標であり、誘電強度の定義は破壊電圧と絶縁体厚さの比、すなわち材料が長期にわたって耐えることができる最大電界強度である。主鎖中に繰り返し出現するアミド基は極性基であり、水分子との間に水素結合を形成することができるため、ポリオレフィンなどの疎水性ポリマーに比べて吸水率が大きく、その製品は吸水によって電気性能の変化を引き起こすことが多く、正確に測定するPA6系材料の誘電強度は大きな妨害をもたらした。

誘電強度測定器

LDJC-100kVコンピュータ制御電圧破壊試験器LDJC電圧破壊試験器電気絶縁強度試験器

吸水率対PA6誘電強度の影響機構

誘電強度の定義は破壊電圧と絶縁体厚さの比であり、試料厚さが統一されると、絶縁材料の誘電破壊電気の変化はその誘電強度の変化を体現する。誘電破壊は力学的破壊と似ており、常に材料の局所的な不完全性や何らかの弱点と関係している。高分子誘電破壊はその形成メカニズムによって、大別して真性破壊、熱破壊、放電による破壊の3つの主要な形式に分けることができる。

当PA6の吸水率が低い場合、試料破壊位置は電極縁にあり、試験位置で炭化物が発生し、破壊時に臭いが発生する、当PA6の相対吸水率がより高い場合、試料の破壊位置は電極の中間にあり、破壊領域はつややかで炭化物がない。

本実験で用いた電極のエッジは半径が3.2ミリメートルのアークを用いて試験前に真空シリコーングリースを塗布したが、試験時に両電極エッジ間に空隙が存在し、空隙中のガス誘電強度比PA6試料の誘電強度はずっと低く、試料の含水率が低い場合、高圧交番電場の作用下で、電極エッジ間のガスはまずイオン化放電を発生する。放電時に電界によって加速された電子とイオンが試料表面を衝撃すると、直接高分子構造を破壊することができ、放電によって発生した熱は高分子の熱分解を引き起こす可能性があり、放電によって生成されたオゾンと窒素の酸化物は試料を酸化老化させ、放電を繰り返して試料に受けた浸食を絶えず深め、最後に材料の破壊を招く。すなわち、含水率が低い場合には、PA6の誘電破壊機構は放電による破壊が主である。

試料の吸水率が一定値を超えた後、低周波では、試料中の水は主にイオンコンダクタンスの形でコンダクタンス電流を増加させ、誘電損失を引き起こし、そして系の誘電損失は水含有量の増加に伴って上昇した。また、PA6の吸水率が増大すると、分子の分解度も増大し、同時に結晶度が低下する。材料の局所的な欠陥の増加をもたらす。高圧電場の作用の下で、誘電損失による熱は放出に間に合わず、熱の蓄積はサンプルの温度を上昇させ、温度の上昇に伴い、サンプルの電気伝導率は指数則に従って急激に増加し、電気伝導損失はより多くの熱を発生し、また温度をさらに上昇させ、このような悪循環の結果、サンプルは破壊された。すなわち、サンプルの吸水率が高い場合には、PA6の誘電破壊機構は熱破壊を主とし、電極中間の電界強度が最も強く、サンプルとの接触が最も緊密で、放熱量が最も小さいため、熱破壊は電極中間で発生することが多い。

吸水率の上昇はPA6誘電損失の上昇と局所欠陥の増加、誘電破壊メカニズムは放電破壊を主とするものからエネルギーの低い熱破壊を必要とするものに変わり、これは吸水率の増加が引き起こすPA6系材料の誘電強度が低下する原因。

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