LDJD−B誘電率計の相対容量率試験器は絶縁材料の誘電率、誘電損失などのパラメータを試験するのに適している。
誘電率試験の核心一環である共振点探索には、インダクタンスと容量のエネルギー交換が動的平衡に達すると、計器が測定したQ値（品質係数）がピークに達し、その時の容量値が材料の誘電特性を真に反映する「エネルギー平衡術」が隠されている。このプロセスの物理的本質を理解することで、LDJD-B誘電率計の比誘電率測定器テスト効率は「ブラインド調整」から「正確な操作」にアップグレードされます。
Q値は共振回路のエネルギー損失の程度を特徴づけ、Q=1/(tanδ+tanδ_L+tanδ_C)，ここで、tanδは材料損失であり、tanδ_ Lはインダクタンス損失であり、tanδ_ Cは容量損失である。回路が共振すると、インダクタンスの磁場エネルギーと容量の電場エネルギーが周期的に変換され、理想的には損失はゼロ（Q→∞）であるが、実際には材料と素子の損失がQ値の低下を招く。LDJD機器の場合、Q値が1000に達すると、機器は0.0001のtanδ差を見分けることができ、Q値が100を下回ると、試験誤差は5%を超えることになる。
主調容量を手動で調整する場合は、「太くして細くする」という原則に従う必要があります。
粗調：容量つまみを急速に回転させ、Q値の変化傾向を観察し、Q値の上昇の大まかな区間を見つける、
微調整：調整速度を遅くして、Q値がピークに近づく時、毎回の調整幅は1 pF（ノブの回転角度≦1°）を超えないで、そして1-2秒待って、Q値を安定させる——実測によると、急速な調整はQ値の変動±5%を招く可能性があり、安定後の読数誤差は±1%以内に制御することができる、
検証：ピークを見つけた後、容量を逆方向に調整し、Q値の対称低下を確認し、誤って二次ピークを真共振点としないようにする。
LDJD-B誘電率計の比誘電率測定器の自動走査機能は、本質的にはシングルチップ制御ステッピングモータを通じて容量を調節すると同時に、リアルタイムでQ値をサンプリングすることであり、そのコアアルゴリズムは以下を含む：
勾配探索：まず10 pFステップで高速スキャンし、ピーク区間を位置決めする、
金分割検索：ピーク区間内で0.1 pFステップで精密スキャンし、±0.5 pF以内の本当のピークを見つけることを確保する、
温度補償：容量つまみの機械的精度が温度に影響されるため（25℃で±0.5 pF、40℃で±1 pF）、アルゴリズムは内蔵温度センサーデータに基づいて調節量を自動的に修正する。
手動でも自動でも、共振点探索の本質は繁雑な電気信号の中で「エネルギーバランス」の瞬間を捉えることであり、これは波の中で穏やかな港湾を探すようなものであり、エネルギー変換の法則を理解してこそ、テスト結果を誤差の霧を通り抜けて、真実の彼岸に到達させることができる。
