日本電子JEOL電界放出透過型電子顕微鏡F 200

日本電子JEOL電界放出透過型電子顕微鏡F 200詳細：

日本電子JEOL電界放出透過型電子顕微鏡F 200JEM-F 200の外観と動作モードは、「インテリジェント化」の理念に基づいて新たに設計されています。新しいヒューマンインタフェースにより、ユーザーは電子顕微鏡の観察と分析に専念することができます。日本の電子が電子光学分野で長年蓄積してきたおかげで、新しい設備は球状差動電子顕微鏡の高い安定度の設計理念を採用し、この設備の機械的安定度と電気的安定度は大幅に改善され、それによってより優れた性能を保証することができる。

JEM-F 200はショットキー電界放出電子銃、または冷電界放出電子銃*、高輝度と高安定性の電界放出電子銃を配置することで、観察と分析効率を大幅に向上させることができる。

冷場電子銃については、より高い輝度とより小さいエネルギー発散度の電子源を得ることができ、輝度は8 x 108 A/cm 2・srより高く、エネルギー発散度は0.3 eVまで低く、画像品質と分析効果においてyichouより優れ、より高エネルギー分解能のEELS分析に適しており、サンプルに対して精密な化学結合状態分析を行うことができる。

JEM-F 200には新たな4段階集光レンズ設計が導入され、増加するさまざまな用途に対応することができます。この新しいシステムのサポートの下で、前の2段の集光レンズはビームスポットのサイズとビームフロー強度を制御することができ、その形成された電子東交差点は特定の位置に固定することができ、その後、後の2段の集光レンズを通じて照明領域と収束角度の制御を実現することができる。また、TEMモードイメージングにおいて非常に重要な平行光照明モードは、従来の電子顕微鏡のように簡単に実現することができる。このシステムの使用により、高品質の明視野および暗視野画像を容易に得ることができる。