高温誘電体温度分光バイアス誘電体試験システム

DPTS-2000E型高温誘電体温度分光バイアス誘電体試験システム高温環境下の誘電体材料の誘電調整可能性能のテストに適用し、システムソフトウェアは完全な測定と分析機能を持ち、誘電率、誘電損失の電場E、温度T、周波数fによる変化規則を測定でき、それによって誘電率を得られ、誘電率はtunability、誘電損失、最適化因子FoMなどと電場E、温度Tの関係曲線をスケジューリングすることができる。

誘電非線形とは、印加電界の変化に伴って誘電率が変化することを意味し、分極強度と電界強度の非線形関係を反映している。この誘電非線形性はマイクロ波回路に応用でき、電界を印加することで回路の誘電率を変化させ、さらに電磁波の波速と波長を制御して位相シフトの変化を達成することができる。

異なる電場下での材料の誘電率特性の試験方法は多い。直流バイアス電源付きインピーダンスアナライザ（またはLCRテーブル）を用いて直接測定を行う場合、この方法は低直流バイアス下の小信号試験にのみ適用され、最大の直流バイアスは40 Vに達することができ、大部分のインピーダンスアナライザ（またはLCRテーブル）は自己帯域の直流バイアスは5 Vである。

DPTS-2000E型高温誘電体温度分光バイアス誘電体試験システム高直流バイアス下の小信号試験方法を提供し、直流バイアス場範囲は0〜5000 VDCであり、小信号周波数は200 kHzに達することができる。

配置された高温試験箱は、抵抗線を加熱素子とし、T型熱電対とプログラマブル温度制御器を採用している。火炉は全金属火炉を採用し、高温は260℃に達することができ、温度制御精度は±0.1℃である;通気口を併設しており、不活性ガス下での使用に使用できる。温度場の均衡、温度制御の正確さ、昇降温度速度の速いなどの利点がある。

製品の優位性：高バイアス電圧、測定精度が高く、制御温度が正確で、温度場が均一に分布する。

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