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北京欧波同光学技術有限公司
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環境真空走査電子顕微鏡

交渉可能更新01/18
モデル
製造者の性質
プロデューサー
製品カテゴリー
原産地
概要
Quattro SEM環境真空走査電子顕微鏡は環境真空機能を有する柔軟で多機能高分解能走査電子顕微鏡であり、イメージングと分析の全面的な性能と環境モード(ESEM)を結合することができ、サンプル研究を自然な状態で行うことができる。
製品詳細

クアトロ SEM環境真空走査電子顕微鏡環境真空機能を備えた柔軟で多機能な高分解能走査電子顕微鏡のために、イメージングと分析の全面的な性能と環境モード(ESEM)を結合することができ、サンプル研究を自然な状態で行うことができる。

Quattroの電界放出電子銃(FEG)は優れた分解能を確保し、異なる検出器オプションにより、配向後方散乱、STEM、陰極蛍光情報を含む異なるライニング情報を調整することができる。複数の検出器と検出器によって区別された画像は、単一スキャンでサンプル情報を得ることができるように、同期して収集および表示することができ、それによって電子ビーム感受性サンプルのビーム露光を低減し、真の額動的試験を実現することができる。Quattroの3つの真空モードにより、システムは柔軟性を持ち、幅広いサンプルタイプを収容でき、サンプルの導電性、絶縁性、湿気、高温条件下にかかわらず、信頼性の高い分析結果を得ることができる。Quattro*のハードウェアにはユーザーウィザードがサポートされており、オペレータだけでなく、直接交換を行うことができ、結果の取得時間を簡単に短縮できます。

金属及び合金、断面、溶接点、研磨断面、磁性及び超伝導材料
セラミック、複合材料、プラスチック
フィルム/コーティング
地質サンプル断面、鉱物
軟質材料:ポリマー、薬物、ろ過膜、ゲル、生体組織、植物材料
粒子、多孔質材料、繊維
水和/脱水/湿潤/接触角解析
結晶/相転移
酸化/触媒
材料生成
延伸(加熱または冷却に伴う)

発射源:高安定型ショットキー電界発射電子銃

解像度:

モデル

クワトロ C

クワトロ S

高真空

30kV(SE)

1.0nm

1kV(SE)

3.0nm

低真空

30kV(SE)

1.3nm

3kV(SE)

3.0nm

30kV(BSE)

2.5nm

環境スキャンモード

30kV(SE)

1.3nm


倍率:6 ~ 250000×
加速電圧範囲:200 V ~ 30 kV
プローブ電流範囲:1 pA-200 nA、連続調整可能
X-Ray動作距離:10 mm、EDS検出角35°
試料室:左から340 mm幅の大記憶空間、試料室は拡張可能なインタフェース数12個、エネルギースペクトル計インタフェース3個(うち2個は180°対角位置)を含む

サンプルテーブルとサンプル:

検出器システム:

最大4種類の信号を同期して検出します。

試料室高真空二次電子検出器ETD
低真空二次電子検出器LVD
ガスSED(環境スキャンモード用GSED)
サンプル室内IR-CCD赤外線カメラ(サンプル台高さ観察)
サンプルナビゲーションに使用できるカラー光学カメラNav-Cam™


制御システム:
オペレーティングシステム:64はGUI(Windows 10)、キーボード、光学マウス
画像表示:24インチLCDディスプレイ、WUXGA 1920×1200
最大4つのビューを同時にアクティブ化するカスタム画像ユーザーインタフェース
ナビゲーションモンタージュ
ソフトウェアはUndoとRedo機能をサポートする

クアトロ SEM環境真空走査電子顕微鏡特徴と用途:

自然状態における材料の事前案を研究するために、環境真空モード(ESEM)を有する*高分解能電界放出走査電子顕微鏡、

試料の製造時間を短縮:低真空と環境真空技術は非導電及び/又は含水試料に対して直接イメージングと分析ができ、試料表面に荷電蓄積がない、
様々な動作モードで導電性試料と非導電性試料を分析し、二次電子像と後方散乱電子像を同時に取得する、
優れた分析性能、サンプルボックスは同時に3つのEDS検出器を設置することができ、その中の2つのEDSポートは180°、WDSと共励EDS/EBSDに分かれている、
非導電性試料に対する分析性能:「圧差真空システム」による低真空モードでのEDSとEBSD分析の実現、
柔軟で正確な優中心サンプル台、105°傾斜角度範囲、多方位にサンプルを観察することができる、
ソフトウェアは直感的で簡単で使いやすく、ユーザーウィザードとUndo(元に戻す)機能を構成し、操作手順が減少し、分析がより迅速になる、
スケーラブルRGB陰極蛍光(CL)検出器、1100℃高真空ホットテーブル、AutoScriptなどの革新的なオプション。