電気めっきx蛍光めっき層厚測定器

めっきX蛍光スペクトルめっき層厚測定器：精密測定、品質保障の選択

めっきX蛍光スペクトルめっき層厚測定器は*X線蛍光分析原理に基づく高精度測定設備であり、めっき業界及び各種めっき層厚測定需要のために設計され、製品の品質を保障し、生産効率を高める上で重要な役割を果たしている。

測定原理科学*

その核心原理はX線管を用いて高エネルギーX線を放出し、被めっき層サンプル表面に照射することである。めっき層中の元素が励起されると、特定のエネルギーを持つ二次X線、すなわち特徴X線が放出される。これらの特徴X線のエネルギーと強度情報を高解像度の検出器で正確に捉え、内蔵された*アルゴリズムと標準データベースを組み合わせることで、めっき層の厚さを迅速かつ正確に計算することができます。この非破壊的な測定方式は、サンプルを切断、研磨などの処理を行う必要がなく、サンプルの完全性を保持している。

性能特徴の優位性が際立っている

• 高精度と高再現性：計器は精密な光学系と*の信号処理技術を採用して、有効に測定誤差を下げて、毎回の測定結果が高度な一致性と正確性を持つことを確保して、製品の品質制御に信頼性のあるデータサポートを提供する。

• 広い測定範囲：異なる厚さ範囲のめっき層測定に適応でき、ミクロン級の薄いめっき層でも厚いめっき層でも、正確な測定を実現でき、めっき業界の多様な検査ニーズを満たすことができる。

• 多要素解析能力：単一めっき層の厚さを測定できるだけでなく、多層めっきシステム中の各層の厚さを別々に測定することができ、同時にめっき層中の元素組成と含有量を分析し、めっき技術の最適化に全面的な情報を提供する。

• 操作が簡単で迅速：直感的なヒューマンインタラクションインタフェースとインテリジェント化された操作ソフトウェアを搭載しており、ユーザーは簡単なトレーニングを受けるだけで簡単に手に入れることができます。測定過程の自動化の程度が高く、検査時間を大幅に短縮し、生産効率を高めた。

応用分野が広い

電気めっき、電子、金物、自動車、航空宇宙などの業界に広く応用され、金属めっき層（例えば亜鉛めっき、ニッケルめっき、クロムめっきなど）と非金属めっき層（例えばプラスチックめっき、セラミックめっきなど）の厚さを測定し、企業が製品の品質を厳格に制御するのを助け、製品が関連基準と顧客の要求に符合することを確保する。

電気めっきX蛍光分光法めっき層厚測定器はその科学*の測定原理、良いの性能特徴と広範な応用分野があり、電気めっき及び関連業界となっている良いの検出装置を提供する。

以下は深セン市天創美科技有限公司が販売するX蛍光分光器によるめっきめっき装置の試験詳細な説明：

めっき層の検査：

一般的な金属メッキ層は、

単層厚さ範囲：

金めっき層0−8 um、

クロムめっき層0 ~ 15 um、

残りは一般的に0 ~ 30 um以内であり、

最小0.001 umまで測定できます。

多層厚さ範囲：

Au/Ni/Cu：Au分析厚さ：0-8 um Ni分析厚さ：0-30 um

Sn/Ni/Cu：Sn分析厚さ：0-30 um Ni分析厚さ：0-30 um

Cr/Ni/Fe：Cr分析厚さ0〜15 um Ni分析厚さ：0〜30 um

めっき層数1 ~ 6層

めっき精度の相対差は一般的に5%未満である。

めっき成分含有量：Sn−Pb合金成分分析、Zn−Ni合金の成分分析。

めっき層の分析優勢：PCB金指の最小寸法を分析すると0.2 mmに達することができる

単層分析精度、Niを例に：（相対差）

元素成分分析：

めっき液の分析、現在よく見られるめっき液元素の分析は：金、銀、錫、銅、ニッケル、クロム、亜鉛。

ROHSとハロゲンフリー検出器、高性能SDD検出器はハロゲンフリーを検出でき、めっき層と環境保護の1機多用を実現する。

金属成分分析は、ROHSを検出すると同時に、金属中の他の各元素成分の含有量を検出することができる。

検出精度：

Cr、Cd、Hg、Cu、Zn、Fe、Ni、Pb、Mn、W、Au、Ag、Snなどの重金属

検出限界は1 ppmに達した。

これらの金属試験分析の安定した読み取り許容差本装置は以下の基準に達している：

A.検出量が5%を超える元素の安定した試験読み取りの相対差が1%未満

B.0.5〜5%の元素を含む安定した試験読取の相対差が2%未満であることを検出する

C.0.1〜0.5%の元素が安定していることを検出する試験読取の相対差は5%未満である

D.0.1%未満の検出含有量を有する元素試験の読み出し相対差変化率は10%未満

測定精度：

1）精度（単層）：

厚さ計の検出精度表

試験方法：同じ操作条件下で、同じ標準テンプレートを5回検査し、検出した平均データと標準テンプレートの実際のデータを比較する。検出精度は、検出平均値と標準サンプルの実際値との差（平均誤差）

2）二層以上：

2層以上の第1層精度は単層の試験結果に合致するが、第2層以上は複雑で、上の層の厚さに基づいて決定しなければならない。1層の厚さが2 um未満の場合、1層と2層の試験精度は基本的に単層の精度に合致し、以下の試験報告書を参照して1層の金標本厚さ0.101 um、2層目のニッケルの標本厚さは4.52 umである。

に 1層の厚さが2〜5 umの場合、2層目と3層目の試験精度が大幅に低下し、2層目の誤差率は5〜10%、3層目の誤差率は15%未満になる。

再現性：

再現性を保証する値：≤±5%

繰り返し性の検査は計器の校正後：同じ操作条件の下で、同じ検査サンプルを用いて連続繰り返し検査を行い、連続測定は同じ検査点の位置で60秒間隔を用いて、測定は全部で10回行い、毎回測定値と10回平均値を比較しなければならない。

繰返し性＝平均誤差÷平均値×100* %.

レポート印刷：

PDF、Excel形式でレポートを出力でき、履歴データの照会が便利

安全な使用、メンテナンスとメンテナンス

計器は非常に精密なので、許可されていない場合は計器の外殻を開けないでください。X線源と検出器を変えないでください。ユーザー自身の原因で計器が破損した場合、当社は責任を負いません。

器具の取り付けは必ず安定しなければならず、器具の後ろの壁からの距離は30センチを下回ってはならず、標準的な220 V交流を使用しなければならず、電圧不安定な状況には定電圧電源を備えなければならず、コンセントは接地が良好でなければならず、ユーザーの電源が要求に合わないことによる損失はユーザーが責任を負う。

濡れた手で電源部分に触れないでください。水を持った手も感電しないように機器の外殻に触れないでください。

測定を行う場合、高電圧がX線源に流れるため、器具の運転中はカバーを開けたり触ったりしないでください。高電圧ソースは自動運転またはユーザーガイドに従って中止する必要があるためです。

計器環境要求：計器使用環境は清潔である必要があり、温度は15℃~ 30℃、湿度に適している≤80%、電源：AC：220 V±5 V。

以上の詳細はいずれも結果を予測できない可能性があり、買い手は基本的に遵守しなければならない。

電気めっきx蛍光めっき層厚測定器