もうかんXラジオめっき層厚測定器

キャピラリーX線分光めっき層厚測定器：正確な厚さ測定、エネルギー供給めっき品質管理制御

キャピラリーX線分光めっき層厚測定器は*光学と放射線技術を融合した高精度検出装置であり、めっき業界の品質制御において重要な役割を果たしている。

*技術原理

この測定器は毛細管X線光学技術とX線蛍光分光分析原理に基づいている。毛細管X線光学系は精密な「光線操作マスター」のようなもので、X線に対して効率的な集束とコリメートを行い、発散したX線ビームを極細の高強度スポットに集め、めっき層表面に正確に照射することができる。X線とめっき元素が相互作用すると、特徴的なX線蛍光が励起され、これらの蛍光のエネルギーと強度はめっき元素の種類と含有量と密接に関連している。これらの特徴的な蛍光信号を高解像度の検出器で捕捉し、専門の分析ソフトウェアを用いてデータ処理を行うことで、めっき層の厚さを正確に測定することができます。

パフォーマンスの利点

• 高精度測定：毛細管X線光学系はマイクロ領域の正確な照射を実現し、測定の空間分解能を大幅に向上させ、微小領域のめっき層の厚さを検出することができ、測定精度はナノメートルレベルに達することができ、めっき技術の精密な制御に信頼できる根拠を提供した。

• 非破壊検査：全体の測定過程において、X線はめっき試料にいかなる損傷を与えず、試料を破壊する必要なく正確な厚さ情報を取得でき、試料の完全性と後続使用の実行可能性を保証した。

• クイック解析：設備は高速データ処理能力を備え、短時間でサンプルのスキャンと分析を完成することができ、検査効率を大幅に高め、大規模生産中の高速品質検査の需要を満たす。

• 多要素解析：めっき層の厚さを測定するだけでなく、同時にめっき層中の多種元素成分とその含有量を分析し、めっき層の品質と性能を全面的に理解するために豊富な情報を提供することができる。

広範な応用分野

毛細管X線スペクトルめっき層厚測定器は電子、自動車、航空宇宙、金属製品など多くの業界に広く応用されている。電子分野では、プリント基板、集積回路パッケージなどの製品のめっき厚さを測定し、電子部品の性能と信頼性を確保することができる、自動車業界では、自動車部品のめっき層に対して品質監視を行い、部品の耐食性と使用寿命を高めることができる。

以下は深セン市天創美科技有限公司が販売したX蛍光分光計によるめっきめっき層の測定器の詳細な紹介である：

製品の優位性と特徴

（一）製品優勢

1. めっき層の検査、最大めっき層の検査は達成することができます 5 レイヤーめっき層測定精度 0.001μm；

2. スロット式設計、超大可動全自動サンプルプラットフォーム 480*480mm（長い*広い)（カスタマイズ可能），サンプル

移動距離 350*250ミリメートル;最大サンプル高さ：140ミリメートル

3. レーザー位置決めと自動多点測定機能、

4. 運行及び維持コストが低く、消耗品がなく、使用環境に対する相対的な要求が低い、

5. 操作が簡単で、学びやすく、正確で損失がなく、高品質、高性能、高安定性、迅速な検出結果（3-30秒）、

6. お客様の個性化の要求に応じてカスタマイズしてハードウェアを構成することができます。

7. ソフトウェアのアップグレード、

8. 非破壊検査、一度に標準サンプルを購入して使用することができる、

9. 安心の使用、アフターサービス対応時間 24時間 内で、家政婦式のサービスを提供する、

10. 遠隔操作が可能で、お客様の使用中の後顧の憂いを解決することができます。

11. 超伝導多毛細管方式を採用し、最小スポットは 15μm 、光強度の向上 100 倍以上

（二）製品特徴

1. 高性能で高精度X蛍光分光計（XRF の）

2. コンピュータ/ MCA(マルチチャネルアナライザ)

2048 チャネル逐次近似計算法 ADC（アナログデジタル変換器）

マルチレイ運用基本パラメータ（FP）ソフトウェア、簡単な三段階で無標識サンプルの標定を行い、基礎パラメータ計算方法を用いて、サンプルに対して正確なめっき層厚さ分析を行う

3. MTFFPについてたそうフィルムきほんパラメータほう)モジュールによるめっき厚さ

4. 励磁モード50987.1 DIN / ISO 3497-A1吸収モード50987.1 DIN/ISO 3497-A2線形モードで薄めっき層の厚さ測定を行う

相対（比）モード焦点なし測定DIN 50987.3.3／ISO 3497 めっき層厚同時測定

単めっき応用[次のようになります。Cu/ABS 等]

二重めっき応用[次のようになります。Ag/Pd/Zn、Au/Ni/Cu等]三層めっき応用[次のようになります。Au/Ni-P/Cu/黄銅等]

よんめっき応用[次のようになります。クロム/ニ/Cu/Zn/SnPb等]合金めっき層の応力[次のようになります。Sn-Pb/Cu]

5. マルチレー。ウィンドウズ10ソフトウェアオペレーティングシステム

6. 完全な統計関数平均値、標準偏差、低/高示度、トレンド線、CpとCpk の 要因等

7. 自動移動プラットフォーム、ユーザーは予め設定されたプログラムを使用して自動サンプル測定を行う。最大測定ポイント数=毎 9999 各ステージファイル。各ステージのファイル数が最大25 個の異なるアプリケーションがあります。特別なツール'ラインスキャン'和'こうし' 。各ステージファイルには統計パッケージが含まれています。オートフォーカスを含む

機能、便利なロード関数、照準サンプルと撮影、レーザー位置決めと自動多点測定機能。

製品構成と技術指標の説明

1. X放射線管：高安定性 XLight Tube>10,000 時間）マイクロフォーカス xラジオ管モリブデンパラジウム

焦点スポットの直径:15〜35μm

2. 検出器：70ミリメートル²検出器面積ファスト SDD検出器のエネルギー分解能：130eV

3. プラットフォーム：ソフトウェアプログラム制御サーボモータ駆動 X-Y軸移動大サンプルプラットフォーム。

4. レーザー位置決め、簡易荷重の最大荷重量は 5 キログラム

5. ソフトウェア制御プログラムによる持続性自動測定

6. サンプル位置決め：ディスプレイにサンプルロック、簡易荷重、レーザー位置決め及び写真撮影機能を表示する

7. 分析スペクトル線：

- 2048チャネル逐次近似計算法ADC（アナログデジタル変換）

-基点補正（ベースライン下地補正）

-みつどほせい

- マルチレーソフトウェアインクルード要素ROI（投資回収）及び測定示度自動表示

8 .ビデオシステム：高解像度 CCDカメラ、カラービデオシステム

-倍率:80〜240X

-照明方法：アップライト

-ソフトウェア制御による高真画像の取得

9. 測定厚さ（正常指標）：

-原子番号22 - 24 : 6 – 1000マイクロインチ

-原子番号25 - 40 : 4 – 1200マイクロインチ

-原子番号41 - 51 : 6 – 3000マイクロインチ

-原子番号 52 - 82 : 2 – 500マイクロインチ

10. コンピュータ、プリンタ

1）コンピュータ、ディスプレイ、プリンタ、キーボード、マウスを含む

2）を含むウィンドウズ10ソフトウェア

3）マルチレーめっき分析ソフトウェア

ソフトウェアの説明

1 ・機器の動作原理説明

2. ソフトウェアワーキングアーキテクチャ

iEDX-150μWT モデル分光計ソフトウェアアルゴリズムの主な処理方法

1) 滑らか化スペクトル線平滑化処理

2) 脱出ピークの取り外しエスケープピーク除去

3) サム ピーク 削除オーバーレイピーク除去

4) 背景の削除背景のチェックアウト

5) 空の取り外し空ピーク除去

6) 強度抽出強度抽出

7) ピーク統合 スペクトル統合

8) ピークオーバーラップ要因方法ピーク重畳因子法

9) ガウス解9) Gaussian Deconvolutionガウスデコンボリューション処理

10) 参照解巻基準デコンボリューション処理

iEDX-150μWT モデル分光計ソフトウェア機能

1)ソフトウェアアプリケーション

-単めっき層測定

-線形層測定、例：フィルム測定

-ダブルめっき測定

-合金に対して同時にメッキを行うことができる厚さ

-三層メッキ測定。

-吸収パターンの応用DIN50987。 1/ISO3497-A2

-励磁モードの適用 DIN50987。 1/ISO3497-A1

-基本パラメータ法はすべての応用分野の測定を満たすことができる

2)ソフトウェアひょうてい

- 多層解析用の自動定格曲線

-標準なしサンプルの基本パラメータを使用した計算方法

-標本を使用した多点繰り返し標定

-定格曲線表示パラメータ及び自動調整機能

3)ソフトウェア補正機能：

-きてんほせい

-ステンレス鋼、真鍮、青銅などの多材料基点補正

-みつどほせい

4)ソフトウェア測定機能：

-高速開始測定

-高速測定プロセス

- 自動測定条件設定（光管電流、フィルタ、ROI（投資回収））

5) 自動測定機能（ソフトウェアプラットフォーム）

- 同モード反復機能（多点自動検出が可能）

-測定位置の確認(グラフィック表示機能付き)

-測定開始点設定機能（ファイルごとに元のデータを格納）

-測定開始点記憶機能、印刷データ

-回転補正機能

- TSP アプリ

-行走査およびグリッド機能

6)スペクトル測定機能

-定性分析機能（KLM表記方法）

-エネルギーあたり/チャネル要素 ROI（投資回収）カーソル

-スペクトルファイルダウンロード、削除、保存、比較機能

-スペクトル比較表示機能：2段階表示/オーバーレイ表示/引き算

-スケール拡張、縮小機能（強度、エネルギー）

7）データ処理機能

-モニタリング統計値：平均値、標準偏差、最大値。

-最小値、測定範囲、N番号、Cp 、 Cpk の，

-独立曲線は測定結果を表示します。

- カーブ数値、データコントロールの自動最適化

8）その他の機能

-システムの自己校正は機器条件と動作環境に決定する

-独立操作制御プラットフォーム

-ビデオパラメータ調整

-計器使用一本 USB のデータバスと周辺機器の接続

- マルチレー 自動出力検出レポート（HTMLサイト ，エクセル）

-スクリーンキャプチャ表示モニタ、サンプル画像、曲線など.......

-データベース・チェッカー

-めっき層厚さ測定プログラム保護。

9） 機器の保守と調整機能

- 自動キャリブレーション機能、

-最適化システムは機器条件と操作室環境に依存する、

- 自動キャリブレーション中の値の増加、バイアス量、強度、検出器の解像度、反復法はピーク位置、CPS 、メイン X放射線強度、入力電圧、動作環境。

3 ・ソフトウェアインタフェース

1）めっきソフトウェア分析スペクトル界面

製品保証とアフターサービス

1. 設置場所、環境の準備、設備の設置、テスト、診断、および各作業の指導、および参加に協力します。

2. お客様のオペレータをトレーニングします。

3. インストール、デバッグ、検収、トレーニング、および技術サービスは、ユーザー側の現場でオペレーターを無料でトレーニングします。

4. 全機保証1年、終身修理,保証期間は、設備の検収合格日から計算されます。

5. 無償でソフトウェアのアップグレードを提供

6.保証期間中は、終日のテクニカルサポートとオンサイト保守サービスを提供します。設備故障の修理を受けた後、遠隔故障解決方案を提供する,必要に応じて、修理とトラブルシューティングのために人を派遣します。

もうかんXラジオめっき層厚測定器