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ellen.huang@unicorn-tech.com
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上海市浦東新区張東路1158号礼徳国際1号609 V
優ニコン科技有限公司
ellen.huang@unicorn-tech.com
上海市浦東新区張東路1158号礼徳国際1号609 V

Bowman KシリーズXRF高精度めっき測定システムは、高さが9インチ(228 mm)未満のワークに12インチ(304 mm)x 12インチ(304 mm)の測定可能領域を有する。オートマルチコリメータにより、さまざまな特徴サイズに対応するためにスポットサイズを選択することができます。可変焦点カメラでは、0.25インチ~3.5インチの焦点距離範囲で測定することができます。サーボモータ駆動のプログラマブルプラットフォームは、迅速で正確なプログラマブルサンプルの位置決めを実現することができる。カンチレバードアの設計は作業者のサンプル配置に便利である
テーブルビュー機能は測定可能な領域全体をイメージングし、オペレータはマウスをクリックするだけで任意の場所に移動できます。内蔵ジョイスティックにより、ソフトウェアの介入なしにオペレータがシステムのコントロールパネルからXYプラットフォームを移動できます。他のすべてのBowman XRFシステムと同様に、Kシリーズ高精度めっき測定システムはASTMB 568、ISO 3497、IPC-4552規格に準拠している。
XYZ行程:X:12英寸 (304mm)Y:12英寸 (304mm)Z:9英寸 (228mm)
ワークベンチビュー付きデュアルカメラ(オプション)
サーボモータ駆動のプログラマブルテーブル、正確、高速、安定した移動
キャビティサイズ(WDH):24インチ(609 mm)、24インチ(609 mm)、9インチ(228 mm)
テーブルサイズ:12インチ(304.8 mm)x 12インチ(304.8 mm)
高分解能シリコンドリフト検出器(SDD)
クローズドキャビティ設計
最大5つのコーティングを同時に測定可能
内蔵マニピュレータオプション
オプションの内蔵電子停止装置
カンチレバードアはサンプルアクセスを容易にする
RoHSオプションの提供
高分解能固体検出器は、二次フィルタを必要としない良好な元素分解能を有する。ピーク位置は長時間安定しており、再較正を頻繁に行う必要はありません。X線管と検出器の閉じた結合幾何配置は、より多くの光子数を提供する。これにより、Bowmanシステムは比較的短い測定時間で低い検出限界と比較的高い精度を実現することができる。
ソフトウェアは機器の性能を強力にサポートします。Bowmanめっき層厚測定器の分析データは、直感的なユーザーインタフェースを持ち、操作が簡単でフレンドリーなソフトウェアをサポートする豊富な機能を備えています。測定データはロット番号で検索でき、レポートはワンクリックで生成できる。ユーザーは無制限に新しいアプリケーションとレポート形式を作成でき、すべての結果はコンピュータデータベースに自動的に保存され、すべてのユーザーレベルはパスワード保護を設定できます。
BowmanXRF高精度めっき測定システムは13号アルミニウム元素から92号ウラン元素までの高精度測定分析を行うことができる。
単層めっき層:Au、Ag、Ni、Cu、Sn、Znなど
合金めっき層:ZnNi合金、SnPb合金などのめっき層の厚さと成分比率を同時に分析する
二層めっき層:Au/Ni/Cu、Sn/Ni/Cu、Cr/Ni/Feなど
三層めっき層:Au/Pd/Ni/Cuなど
せいぜい5層のめっき層を分析することができる
25種類の元素成分を同時に分析可能
分析可能めっき溶液中の金属イオン濃度
可分析ROHS有害元素
BowmanはユーザーにXRF技術サポートとサービスを提供する。現在、Bowmanは米国シカゴ本社を除いて、世界4大陸20カ国以上に事務所や機関を設立している。Bowmanは常に、オンサイトテクニカルサポートサービスを提供することに力を入れています。Bowmanは中国上海にデモンストレーション応用センター、トレーニングセンター及び備品部品庫を設置し、深セン、杭州、西安に事務を設置している。顧客に良好なめっき層厚測定方案と迅速で良好なアフターサービスを提供する能力がある。
Bowman KシリーズXRF高精度めっき測定システムの標準構成は4ビット(4、8、12、24 mil)多重コリメータ、オプションのサイズは2 x 2 milから60 milです。可変焦点距離は凹部領域での測定を容易にする。同服モーター駆動のプログラマブルプラットフォームは、オプションのxyzプログラムで部品測定を行うことができます。プログラムは、モードマッチングとオートフォーカスを使用して測定の精度を確保することができます。
すべてのBowman XRF高精度めっき測定システムと同様に、Kシリーズには標準的なシリコンドリフト検出器(SDD)と長寿命マイクロフォーカスX線管が装備されている。
鄒BowmanXRF線装置はX線蛍光原理を利用してめっき層と成分を測定する。高エネルギーX線が金属薄膜表面に照射されると、入射光子が薄膜または基材原子の内層電子を射出して正孔を形成する。外層電子遷移が正孔を埋める際に放出される特徴的なX線蛍光は、そのエネルギーが元素の原子番号に一対一に対応しており、蛍光のエネルギーによって試料中にどの元素が存在するかを知ることができ、XRFの強度によって試料の厚さと各元素の成分を分析することができる。
はんどうたい |
せんろばん |
めっき |
自動車 |
航空宇宙 |
アクセサリー/ジュエリー |
コネクタ |
ファスナー |
電子部品の取扱実績 |
リードフレーム |
パイプ |
切削工具 |
要素測定範囲: |
13号アルミニウム元素から92号ウラン元素 |
X線管: |
50 W(50 kVと1 mA)マイクロフォーカスWアノード管(Cr、Mo、Rhアノードを提供可能) |
検出器: |
コリメート:シリコン固体検出器、解像度190 eV以上 |
解析レベル数と要素数: |
レイヤー5(レイヤー4+ベース)、各レイヤー10要素。同時に30種類までの元素の成分を分析する |
詳細なパラメータは、デルにお問い合わせください。 | |
