ゼータ電位分析器の粒径測定

ゼータ電位分析器の粒径測定概要：

Nicomp Z 3000シリーズナノレーザ粒度計は従来のクラシックモデル380 ZLSをベースにアップグレードしてセットにしたもので、動的光散乱（Dynamic Light Scattering、DLS）原理検出を用いて粒子の粒度分布を分析し、粒径検出範囲は0.3 nm-10μmである。その組み合わせの粒度分析ソフトウェアの複合はガウス（Gaussian）単峰アルゴリズムと*技術を持つNicomp多峰アルゴリズムを採用し、多成分、粒径分布不均一分散システムの分析に対して*優勢を持っている。

技術優位

1、高感度PMT検出器、

2、異なる電力光源を組み合わせることができる、

3、精度が高く、サンプルの真実値に近い、

4、水相及び有機相試料の粒度及びZeta電位を試験することができる、

5、迅速に検査し、履歴データを遡ることができる、

6、結果データは多種の形式とフォーマットで提示する、

7、USP、CPなどの複数の薬局方の要求に符合する、

8、校正する必要がない、

9、複合型アルゴリズム：

（1）ガウス（Gaussion）正規粒度分布と＊のNicomp多峰分布アルゴリズムを自由に切り替える

（2）周波数（Frequency）Zeta電位解析法と＊の位相（Phase）解析法を自由に切り替える

10、モジュール化設計はメンテナンスとアップグレードに便利である、

（1）自動希釈モジュール（オプション）、

（2）自動サンプリングシステム（オプション）、

（3）マルチアングル検出器（オプション）を組み合わせる、

Nicomp多峰分布概念

ベースライン調整自動補償機能と高解像度多峰アルゴリズムはNicomp 380シリーズ計器所*の2つの主要な特徴であり、Nicomp創始者Dave Nicoleは早くから伝統的な動的光散乱理論がガウスモードの粒度分布のみを与えることを認識しており、これは実践生産生活の中で一致していない。現実には多くのサンプルが多分散システムであり、単分散システムではなく、ガウス分布の感度が不足し、分解能が高くないため、これらの特徴はすべてナノ粒度計の実際の生産生活の中での使用を制約している。その創始性はNicomp多峰分布理論を創始し、動的光散乱理論の分解能と感度を大幅に高めた。

Nicomp多峰分布優勢

Nicompシリーズの機器は、Gaussian分布モードとNicomp多峰分布モードを自由に切り替えることができます。これは従来のDLSシステムの結果を提供するだけでなく、Nicomp多峰分布モードを通じてサンプルの正確な状況を体現することができる。Nicompシリーズの計器の一連の優れたアルゴリズムと高感度のハードウェア設計に基づいて、Nicompナノレーザー粒度計は1：2の多分散システムを効果的に区別することができる。

ゼータ電位分析器の粒径測定利点：

モジュラー設計

Nicomp Z 3000ナノレーザ粒度計は、動的光散乱技術を応用した上でマルチモジュール法を加えた全*進粒度計である。モジュールのアップグレードと増加に伴い、Nicompの機能体系はますます強くなり、様々な複雑な体系の検出分析に使用できるようになった。

21 CFR Part 11法規ソフトウェアのオプション配置——cGMP要件に適合

Nicompシリーズの計器は全系に米国連邦法規21章第11項（21 CFR PART 11）の要件を満たすソフトウェアを搭載している。データの自動バックアップ、監査追跡、権限の階層化、電子署名、Limsシステムへの接続が可能など多くの機能を備えている。

中国食品医薬品監督管理局（NMPA）は、医薬開発企業に対して規範的なGLP管理を実施する政策的傾向がある。21 CFR PART 11準拠のソフトウェアを使用することで、現在のGLP/GMPの要件を満たすことができます。