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住所
五和大道北元征科学技術園C 218
Shanghai Jingchengxing Instrument Co., Ltd
概要
マイクロパイオニアXRF-2020厚測定器$r$n CCDレンズ観察による高速無損失試験めっき膜厚$r$n測定めっき、ニッケルめっき、銅めっき、クロムめっき、ニッケル亜鉛めっき、銀めっき、亜鉛めっきニッケル、錫めっき..$r$nめっき層厚測定器XRF-2020韓国原工場生産
製品詳細
めっき層厚測定器XRF-2020韓国原工場生産
XRF-2020めっき層厚測定器
韓国Micropシリーズ
ワーク、PCB及び金物、コネクタ、半導体などの製品の各種金属めっき層の厚さを測定するために使用することができる。10-30秒だけで測定結果を得ることができ、小測定面積は直径0.2 mmの円面積である、
測定範囲：0.02-35 um、
電気めっき、蒸着、イオンめっきなどの各種金属めっき層の厚さを測定できる
微小面積めっき層厚の測定は、CCDカメラにより任意の微小面積を観察及び選択することができる
韓国Microp XRF-2020シリーズ厚さ測定器
銀めっき錫めっきニッケルめっき膜厚試験X-RAYめっき厚さ測定器
（1）単めっき層：Ag/xx |
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（2）合金めっき層：Sn-Pb/xx |
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（3）二重めっき層：Au/Ni/xx |
銀 |
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すず鉛 |
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金 |
うらざい |
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うらざい |
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あなた |
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うらざい |
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（4）合金めっき層：Sn-Bi/xx |
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（5）三重めっき層：Au/Pd/Ni/xx |
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（6）化学めっき層：Ni-P/xx |
ひふくのうりょく |
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金 |
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かがくめっき |
うらざい |
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パラジウム |
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うらざい |
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あなた |
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うらざい |
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（1）単めっき層：Ag/xx |
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（2）合金めっき層：Sn-Pb/xx |
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（3）二重めっき層：Au/Ni/xx |
銀 |
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すず鉛 |
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金 |
うらざい |
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うらざい |
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あなた |
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うらざい |
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（4）合金めっき層：Sn-Bi/xx |
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（5）三重めっき層：Au/Pd/Ni/xx |
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（6）化学めっき層：Ni-P/xx |
ひふくのうりょく |
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金 |
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かがくめっき |
うらざい |
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パラジウム |
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うらざい |
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あなた |
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うらざい |
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銀めっき錫めっきニッケルめっき膜厚試験X-RAYめっき厚さ測定器
機能アプリケーションMicropまくあつけい
CCDレンズ観察による高速無損失試験めっき層の膜厚
電子めっき、金属めっき、端子コネクタなどの製品めっき層の厚さを測定する
測定可能
金めっき亜鉛めっきニッケルめっきクロムめっき、亜鉛ニッケルめっきなど
めっき生産企業及び製品の来料検査に広く使用できる
製品めっき層の厚さと品質をより効果的に制御するのに便利である。
