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住所
五和大道北元征科学技術園C 218
Shanghai Jingchengxing Instrument Co., Ltd
五和大道北元征科学技術園C 218
錫メッキ銀メッキニッケルメッキ厚測定器X-RAY膜厚測定器
製品パラメータ:
X線光管タングステンターゲット、焦点スポットサイズ0.2-0.8 mm
高電圧50 kV(1 mA)ソフトウェア制御に応じて最適化
プローブ高分解能ガス比例計数器
コリメータ単一固定コリメータ直径0.2 mm(オプションまたは他の仕様のカスタマイズ)
全自動試料台、自動雷合焦
機能アプリケーション電子めっき、金属めっき、PCB板、LEDホルダ半導体コネクタなどのめっき層の厚さを測定した。
測定
メッキ、亜鉛メッキ、パラジウムメッキ、クロムメッキ、銅メッキ、銀メッキ、錫メッキ、ニッケルメッキ、亜鉛ニッケル合金メッキなど
単層、二層、多層、合金めっき測定が可能で、底材を問わない
銀めっき測定範囲0.1〜50 um
ニッケルめっき測定範囲0.5-30 um
銅めっき測定範囲0.5-30 um
錫めっき測定範囲0.5 ~ 50 um
メッキ測定範囲0.03 ~ 6 um
亜鉛めっき測定範囲1-30 um
亜鉛ニッケル合金の測定範囲1 ~ 25 um
クロムめっき測定範囲0.5 ~ 25 um
計器全自動メサ、自動雷合焦、多点自動測定
複数のコリメータを選択するには:
0.1mm、0.2mm、0.3mm、0.4mm、0.03×0.5mm
複数または単一のコリメータを配置でき、コリメータのサイズを自動的に切り替えることができる



XRF-2020めっき厚計膜厚計
電子めっき、金属めっき、端子コネクタなどの製品めっき層の厚さを測定する
測定可能な金メッキ、銀メッキ.亜鉛めっきニッケルめっきクロムめっき、亜鉛ニッケルめっきなど
X線厚計韓国XRF-2020膜厚計
韓国X線めっき層厚測定器XRF-2020めっき膜厚測定器
錫メッキ銀メッキニッケルメッキ厚測定器X-RAY膜厚測定器