X-RAY膜厚測定器パイオニアXRF-2020 L厚測定器

MicropXRF-2020めっき層厚計膜厚測定器

X-RAY膜厚測定器パイオニアXRF-2020 L厚測定器

は、十、放射線蛍光原理の非破壊検出装置

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めっき元素を励起して特徴線を発生させ、その強度を分析することにより金属表面のめっき厚さを測定する

めっきに適している,電子製造、半導体などの業界の品質制御と分析。

技術仕様と動作原理

XRF-2020シリーズめっき層厚計核心技術は‌十、放射線蛍光分光分析‌：

エネルギー資源十、試料に放射線を照射すると、めっき元素が励起されて特性蛍光を放出する

検出器は信号を捕捉した後、アルゴリズムにより計算するめっきそう厚み。

具体的パラメータは次のとおりです。‌‌

精準度（ど）‌：

単層めっき測定誤差≤±5%以内，
多層めっき誤差は層数の増加に伴ってわずかに上昇する:

表層正負5%、レイヤ2のプラスとマイナス10%,階層315%。‌‌

‌測定範囲‌：0.02-30um、金、ニッケル、銅、錫、銀などを検出することができる12種の元素、

さいだいかいせき5ふくごうめっき

（例えば金/ニッケル/銅または錫/ニッケル/銅，銀/ニッケル/銅 ，Sn/Ni/Al）:ふげんざいりょう

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検出時間‌：1回の検出に必要10–30秒

XRF-2020シリーズともにオートフォーカスを搭載

応用分野と業界標準

この設備は高精度の工業検査需要を満たし、主なシーンは以下を含む：

‌電子と半導体‌：五子端子コネクタ等、チップピン等。‌‌

‌自動車と航空宇宙‌：エンジン部品のニッケルクロムめっき層を検査する

‌めっきと金物‌：測定あえんニッヶル合金めっき及び亜鉛ニッケル含有量の検出

X-RAY膜厚テスターパイオニアXRF-2020 L厚テスターを下図に示す

Microp XRF-2020厚さ測定器X-RAY膜厚計3機種とも全自動テーブル

自動雷合焦、多点自動測定が可能

メッキ、銀メッキ、ニッケルメッキ、亜鉛メッキ、錫メッキ、クロムメッキ、銅メッキ、亜鉛メッキニッケル合金などを測定することができます！

単めっき層、二重めっき層、多めっき層及び合金めっき層を測定する。

Microp XRF-2020厚さ測定器
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MicropXRF-2020厚さ測定器

めっき層厚測定器X-RAY膜厚測定器
各種めっき層の厚さ、来料の検出などを測定し、基材を問わない

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