銀めっき膜厚測定器XRF-2020めっき膜厚測定器

紫銅銀めっき膜厚測定器XRF-2020めっき層厚測定器

銅銀めっき測定範囲0.5〜60 um

銅錫めっき測定範囲0.5〜60 um

2020シリーズめっき層厚測定器韓国XRFマイクロパイオニア

は、十、放射線蛍光原理の非破壊検出装置‌

めっき元素を励起して特徴線を発生させ、その強度を分析することにより金属表面のめっき厚さを測定する

めっきに適している,電子製造、半導体などの業界の品質制御。

技術仕様と動作原理

XRF-2020シリーズめっき層厚計

核心技術は‌十、放射線蛍光分光分析‌：

エネルギー資源十、試料に放射線を照射すると、めっき元素が励起されて特性蛍光を放出する

検出器は信号を捕捉した後、アルゴリズムにより計算するめっきそう厚み。

具体的パラメータは次のとおりです。‌‌

‌

精準度（ど）‌：

単層めっき測定誤差≤±5%以内，
多層めっき誤差は層数の増加に伴ってわずかに上昇する:

表層正負5%、レイヤ2のプラスとマイナス10%,階層315%。‌‌

‌測定範囲‌：0.02-30um

金、ニッケル、銅、錫、銀などを検出できる12種の元素、

さいだいかいせき5層複合めっき層（例えば錫/ニッケル/銅または錫/ニッケル/銅，銀/ニッケル/銅 ，Sn/Ni/Al）、下材を問わない

‌

検出時間‌：1回の検出に必要10–30秒

XRF-2020シリーズともにオートフォーカスを搭載

応用分野と業界標準

この設備は高精度の工業検査需要を満たし、主なシーンは以下を含む：

‌電子と半導体‌：五子端子コネクタ等、チップピン等。‌‌

‌自動車と航空宇宙‌：エンジン部品のニッケルクロムめっき層を検査する

‌めっきと金物‌：測定あえんニッヶル合金めっき及び亜鉛ニッケル含有量の検出

銀めっき膜厚測定器XRF-2020めっき膜厚測定器

韓国パイオニアXRF-2020膜厚計

3機種とも全自動テーブル

自動雷合焦、多点自動測定が可能

メッキ、銀メッキ、ニッケルメッキ、亜鉛メッキ、錫メッキ、クロムメッキ、銅メッキ、亜鉛メッキニッケル合金などを測定することができます！

単めっき層、二重めっき層、多めっき層及び合金めっき層を測定する。

Microp XRF-2020厚さ測定器
X線めっき層厚測定器、X−RAY膜厚測定器、XRF−2020厚測定器、XRF−2020 L厚測定器X線めっき層厚計、X蛍光めっき層厚計：

MicropXRF-2020めっき層厚測定器

測定

電子電気系めっき製品
金属端子コネクタ半導体などの生産企業や来料検査

銀めっき膜厚測定器XRF-2020めっき膜厚測定器

銅銀めっき測定範囲0.5〜60 um

銅錫めっき測定範囲0.5〜60 um