半導体試験システム

製品の特徴

●ACSは柔軟なインタラクティブソフトウェアテスト環境であり、多くの吉利計器とパラメータテストシステムをサポートしている。

●Model ACS-2600-RTMオプション及びSeries2600 B系統源計器はウェハレベルの信頼性ソリューションを提供している。

●ACS Basicは、デバイスとディスクリートデバイスのテストに最適化されています。ACSサポート品質検査実験室から使用するデスクトップ機器は、ラックの自動パラメータテスタなどハードウェア。部品と離散部品の測定試行、ACS基本版最大限研究開発の効率を高めました。

アメリカ化学学会直感的なGUIは試験計画の作成、試験の実行と結果の分析を簡略化する、デバイスレベル、サイトレベル、ウェハレベル、コンポーネントレベルでテストを開発し、実行します。さまざまなサポートマルチSMU並列試験システムを含む計器とシステム構成、半自動及び全自動プローブ装置を全面的に制御する、インタラクティブリアルタイムデータグラフ

ACS基本版簡単で使いやすいGUI、幅広いデバイスライブラリを持ち、MOSFETS、BJTS、IGBTs、二極和、抵抗器、などを検定する、さまざまな機器をサポートし、2600 BソーステーブルSMU機器と2650 A高出力ソーステーブルSMU機器、吉時利パラメータ図示器構成における吉時利ACS基本版ソフトウェアの標準配置、インタラクションリアルタイムデータ図スタンドアロンPCで無許可ソフトウェアを使用したテスト開発

ACS-2600-RTMACSウエハレベル信頼性オプション、2〜44本のソース端測定チャネルを構成することができ、順序テストと並列テストをサポートする、統合されたマルチサイト機能、包括的JEDEC標準試験キット、リアルタイムプロットとウェハ探査