LCRテーブル

E4980A/ALせいみつがたLCRテーブル優れた測定精度、速度、汎用性を兼ね備え、アップグレード可能–高または低インピーダンス条件下では、いずれも極めて低いノイズを有する–20ヘルツまで2メガヘルツテスト頻度と 4 ビット分解能（e498a）–20ヘルツまで300 kHz/500 kHz/1 MHzテスト頻度と 4 ビット分解能（E4980AL）–周波数はにアップグレード可能500キロヘルツまたは1メガヘルツ（E4980AL）–0.05%ベースインピーダンス精度–5.6ミリ秒（短い）、88ミリ秒（中程度）@1メガヘルツ（e498a）–12ミリ秒（短い）、118ミリ秒（中程度）@1メガヘルツ（E4980AL）–20Vrmsテスト信号、40ボルトちょくりゅうバイアスe498a選ぶ件 001 の直流電源）–201 ポイントプログラマブルリストスキャン。スキャンタイプ：周波数、オープンソースコラボレーションレベル、ちょくりゅうバイアスe498aオプション 001 の直流電源）–かいほう/短絡/ふかほしょう–使用可能な材料測定ソフトウェアN1500A-006

e498aキャパシタンスメータ試験速度が速く、結果が正確で、試験結果の重複性が良い–大量のセラミックコンデンサの製造において信頼性の高いこうそくそくりょう–120ヘルツ/1キロヘルツ/1メガヘルツテスト周波数（E4981A-001）–120ヘルツ/1キロヘルツテスト周波数（E4981A-002）–高速測定：2.3ミリ秒（1メガヘルツ）、3.0ミリ秒（1キロヘルツ）、11.0ミリ秒（120ヘルツ）–正確なディスクテスト：0.07%，0.0005