SA 8000半導体パラメータアナライザ

SA 8000半導体パラメータアナライザ紹介：

半導体デバイスパラメータアナライザは、半導体デバイスの電気的性質をテストするためのプロセス試験機器である。それは電流を支持する-電圧（四、)、容量-電圧（履歴書)、パルス/動的四、などの多種の特性特性特徴は、半導体の研究開発、製造と品質制御の重要な設備である。このような機器は通常、モジュール化された設計を採用しており、ユーザーはテストのニーズに応じて機能モジュールを柔軟に配置することができ、専用ソフトウェアとタッチスクリーンインタフェースを搭載して操作プロセスを簡略化することができる。f安段電流、µVレベル電圧分解能）は基礎デバイスからプロセスまでの広範な特性化ニーズに適用され、半導体、消費電子、自動車電子などの多くの分野で応用されている

自主的に制御可能なアーキテクチャの革新により、国産設備の規模化応用空間を開いた。本製品は全自主知的財産権のPXIeアーキテクチャ設計に基づき、最大18個のモジュールの同時動作をサポートし、直流IV、CV、高速パルス測定ユニットを柔軟に組み合わせ、高速バスと統一同期トリガ管理を通じて、多モジュールの正確な協同テストを実現し、複数の機器間で繰り返し切り替える必要がなく、テスト効率とデータ一致性を大幅に向上させる。そのコア測定能力は0.1 fAの電流分解能に達し、メモリ抵抗器、量子ドットなどのデバイスの超微弱信号を安定的に捕捉することができる、同時にプログラミング不要のQuick Testモデルを搭載し、Pythonカスタムデバイステストアルゴリズムをサポートし、使いやすさと柔軟性を両立し、現在は復旦大学、清華大学などの国内大学の調達リストに入っており、2次元材料、神経形態計算などの最先端研究分野で着地応用を実現した。

コアパフォーマンスパラメータ

電流測定能力：0.1 fA（10µA）超高電流分解能、メモリ抵抗器、量子ドットなどのデバイスの超微弱信号を安定的に捕捉することができる

テストカバレッジ：直流IV、CV、高速パルス測定ユニットを柔軟に組み合わせることができ、多種のPXIe計器に適合する

ソフトウェア能力：

プログラミング不要のQuick Testモード（クラシックテスト/アプリケーションテスト/シーケンステストの3つのモード）

Pythonプログラミングカスタムデバイステストアルゴリズムをサポートし、二次開発を開放する

製品の利点
微弱電流検出
ソーステーブルの分野で長年続いてきた技術蓄積により、SA 8000は0.1 fA（10-16 A）の電流測定分解能を実現し、メモリ抵抗器、量子ドットなどのデバイスの超微弱信号を安定的に捕捉でき、フロンティア探索に信頼性のある微弱信号測定能力を提供する。

全集合多次元試験能力
システムはPXIeアーキテクチャに基づいて最大18個のモジュールが同時に動作することをサポートし、直流IV、CV及び高速パルス測定ユニットを柔軟に組み合わせることができる。高速バス通信と統一的な同期トリガ管理により、多種のPXIe計器を適応することができる。複数の機器間で繰り返し切り替える必要はなく、試験効率とデータの一致性を大幅に向上させる。

プログラミング不要のQuick Testモード
古典的なテストモード：柔軟で多様なパラメータ配置をサポートし、多種のテストシーンの需要を満たす、試験モードの適用：事前に設定された複数のデバイスアルゴリズムを選択し、デバイスの特性曲線または重要なパラメータを迅速に試験することができます。

カスタムデバイステストアルゴリズム試験モードにおけるデバイスアルゴリズムを応用してpythonを用いてプログラムし、顧客がデバイス試験アルゴリズムをカスタマイズするために開放する。ユーザーは自分の研究ニーズに基づいて、デバイスのテストプロセス及びパラメータ抽出アルゴリズムをカスタマイズすることができ、テストの柔軟性とアルゴリズムの再現性を大幅に向上させることができる。

主なオプションモジュールは次のとおりです。

典型的な用途

SA 8000は各種半導体デバイスの研究開発とテストシーンに広く応用され、伝統的なデバイスと最先端の研究分野をカバーしている：

典型的な最先端分野の応用：

1.メモリ抵抗器と神経形態計算研究内蔵波形発生と高速測定ユニット、最小パルス幅200 ns、リアルタイムで抵抗変化過程を記録でき、類脳計算チップに高忠実原始データを提供する。
2.2次元材料と量子デバイスの研究は0.1 fAの超低電流分率測定能力のおかげで、SA 8000は2次元材料（グラフェン、MoSタンパなど）の微弱なコンダクタンス変化を正確に特徴づけ、量子ドットなどの新型デバイスの動作メカニズムの研究を支持することができる。