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上海増駿実業有限公司
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FluxDancer E 900半導体パラメータアナライザ

交渉可能更新05/25
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概要

FluxDancer E 900半導体パラメータアナライザは、半導体装置の電気的特性を測定し分析するために設計されたOriental Spectraによって丹念に作られた高精度試験装置である。この機器は電源、電圧計、電流計、LCR表、スイッチングマトリクスなど多くのフロンティア測定技術を融合し、電流−電圧(IV)と容量−電圧(CV)測定、高速パルスIV測定など多くのテストを実行できるようにした。

製品詳細

FluxDancer E 900半導体パラメータアナライザ紹介:

FluxDancer半導体パラメータアナライザは、半導体デバイスの電気的特性を測定し分析するために設計されたOriental Spectraによって丹念に作られた高精度試験デバイスです。この機器は電源、電圧計、電流計、LCR表、スイッチングマトリクスなど多くのフロンティア測定技術を融合し、電流−電圧(IV)と容量−電圧(CV)測定、高速パルスIV測定など多くのテストを実行できるようにした。


FluxDancerの特徴は、テスト精度と解像度の追求にあります。正確なIVとCV特性を提供できるだけでなく、半導体研究開発、プロセスプロセス開発、デバイス信頼性試験、光電デバイス試験などの分野に広く応用されている。FluxDancerの統合設計は、従来のマルチ機器の組み合わせに比べて高い測定精度と解像度を確保しています。

主な仕様パラメータ:

    □電流−電圧(IV)、容量−電圧(CV)、パルスIVテストなどの全面的な機能、

    □電流測定分解能zuiは0.1 fA高く、試験精度は30 fA、

    □サポートパルスモードにおける最短パルス幅は10 ns、

    □試験機能:IV、IV-t、PIV(パルスIV)、Super-PIV(10 ns sampling)CV、インピーダンス、1/f(100 KHz)、Super-1/f(1 MHz)、Solar cell、FET、BJT、ELなど。

    □高精度かつ高解像度の測定能力、

    □迅速な測定と分析、多種の測定モードをサポートする、

    □モジュール化設計、アップグレードと拡張が容易:配置>10個のスロット、zui大吸収電流を4 Aまでサポートする、

    □適用デバイス、材料、能動/受動部品などのタイプの電子部品、

    □直感的なユーザーインタフェース、操作フローを簡略化する、

    □自動化テストとデータ分析をサポートする。

    I-Ⅴソース測定ユニット(SMU)

    • 電圧範囲:±100 V-200 V

    • 直流電流範囲:±1 A

    • パルス電流範囲:±2 A±3 A

    • 最小電流分解能:0.1 fA

    • 最小電圧分解能:100 nV

    • 電流測定レンジ:10 fA

    • 電圧測定レンジ分解能:0.5 uV

    • 直流電力:20 Wまたは40 Wオプション

    • zui大パルス電力:480 W(zui大電圧160 V、zui大電流3 A)

    • 四象限テストをサポートする

    • 2ラインまたは4ラインのテストをサポート

    • IV-Tテストモードをサポートし、zui高速サンプリングレート550 ns毎点、データ記憶ポイントは10 K、1 M、10 Mまたは100 Mに設定することができる

    中電力直流SMU:

    • 電流範囲:±1.5 A

    • 最小電流分解能:400 pA

    • 最小電圧分解能:4 uV

    • 電流測定分解能:10 fA

    • 電圧測定分解能:0.5 uV

    • 四象限テストをサポートする

    • 2ラインまたは4ラインのテストをサポート

    小出力直流SMU:

    • 電圧範囲:±14 V

    • 最小電流分解能:200 nA

    • 最小電圧分解能:60 uV

    • 電流測定分解能:10 fA

    • 電圧測定分解能:0.5 uV

    • 四象限テストをサポートする

    • 2ラインまたは4ラインのテストをサポート

    • サポート元テーブル数:1~5オプション

    • 前置増幅:前置増幅を設定可能、SMU電流測定分解能を0.1 fAに向上

    C-V多周波容量ユニット(CVU)

    • 1 kHz-10 MHzの広い範囲、最小周波数分解能1 mHz

    • 容量試験精度(誘電損失D):@1 MHz±0.3%、10pF@1MHz±0.15%, 10pF@100kHz±0.2%

    • ±30 V(60 Vpp)、内蔵DCバイアス範囲は±210 V(420 V差分)に拡張できる

    • CV、CV自動試験測定機能を持つ

    • CV、C-t容量測定走査側をサポートする

    パルス式I−V超高速パルス測定ユニット(PMU)

    • 2つの独立した高速パルスIV源と測定チャネル

    • ±40 V(80V p-p),±800 mA

    • 過渡波形捕捉モード

    • 任意の波形発生器、10 nsプログラム可能な分解

    高圧パルス発生器ユニット(PGU)

    • 2つの高速パルス電圧源チャネル

    • ±40 V(80V p-p),±800 mA

    • 任意の波形発生器、10 nsプログラマブル解像度

    I-Ⅴ/C-Vマルチチャネルスイッチモジュール(CVIV)

    • IVソースとCVを切り替え、プローブを持ち上げる必要はありません

    • ±210 V DCバイアスをサポートする

    1 nノイズ試験モジュール(FNU)

    • 速度8 ~ 10 s/bias

    • 帯域幅1 Hz ~ 100 kHz

    • ノイズ基板:<120uA@2Hz

    • 全帯域幅における測定偏差2%