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昆山瑞塞奇精密機器有限公司
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S−3400 N走査電子顕微鏡

ネゴシエーション可能更新07/29
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概要

関連パラメータ:項目説明SE解像度3.0 nm(30 kV)、高真空モード/10 nm(3 kV)、高真空モードBSE解像度4.0 nm(30 kV)、低真空モード増幅…

製品詳細

関連パラメータ:


プロジェクト 説明
SE解像度 3.0nm (30kV),高真空モード/10 nm(3 kV)、高真空モード
BSE分解能 4.0nm (30kV),低真空モード
拡大倍率 x5 ~ x300,000
かそくでんあつ 0.3 ~ 30 kV
低真空域 6 ~ 270 Pa
最大サンプルサイズ 直径200 mm
サンプルテーブル タイプI II
X 0 ~ 80mm 0 ~ 100mm
Y 0 ~ 40mm 0 ~ 50mm
Z 5 ~ 35mm 5 ~ 65mm
R 360o 360o
T -20o~ +90o -20o ~ +90o
T -20o~ +90o -20o ~ +90o
最大サンプル高さ 35mm (WD=10mm) 80mm (WD=10mm)
駆動タイプ 手動5軸モータ駆動
フィラメント プレペアタングステンフィラメント
対物レンズライトバー 可動式4穴対物レンズライトバー
じゅうバイアス 固定比例バイアス、手動バイアス、自動4バイアス
検出器 二次電子検出器高感度半導体後方散乱電子検出器
解析位置 WD=10mm, TOA=35o
せいぎょ マウス、キーボード、手動つまみ
じどうちょうせい 自動フィラメント飽和、自動4バイアス、自動ガン対中、自動ビームフロー設定、自動合軸、自動焦点非点収差、自動輝度コントラスト


詳細な説明


1.S-3400 Nは強力な自動機能を有し、自動フィラメント飽和、4バイアス、自動ガン対中、自動ビームフロー設定、
自動合軸オートフォーカスと非点収差、自動輝度コントラストなど。
2.3 kV低加速電圧時に10 nmの分解能を保証する。
3.新型5分割高感度半導体式後方散乱プローブ。
4.S-3400 N II型は5軸モータ台を有し、傾斜角度は-20度~+90度、サンプルは最高80 mmに達することができる。
5.分析サンプルボックスはEDX、WDX及びEBSDを同時に設置することができる。
6.真空システムはタービン分子ポンプを使用し、清潔、高効率