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深セン市南山区西麗学苑大道1001号南山智園B 1棟2階
深セン市中図計器株式会社
深セン市南山区西麗学苑大道1001号南山智園B 1棟2階
SuperViewW光学顕微鏡形態輪郭計は、超平滑から粗さ、低反射率から高反射率までの各種物体表面を正確に測定でき、ナノメートルからミクロン級ワークの粗さ、平坦度、ミクロ幾何学輪郭及び曲率などのパラメータ検出を実現する。この設備は測定精度が高く、操作が簡便で、機能が全面的で、測定パラメータが広くカバーされているなどの優位性を備えており、単一の精密デバイスの検出には時間がかかり、効率的な検出を保障することができる。白色光干渉計専用光源モードにより、SuperViewWは滑らかから粗いまでの多種の精密デバイス表面の測定ニーズに広く適合している。

1、白色光干渉計の特殊光源モードは、平滑から粗いまでの各種微細デバイス表面の測定に広く適用できる。

2、サンプルの超平滑凹面円弧走査を完成するために同時に満足する高精度、大走査範囲の需要に対して、中図計器SuperView W 1の複合型EPSI再建アルゴリズムは、伝統的な位相シフト法PSI走査範囲が小さく、垂直法VSI精度が低いという二重の欠点を解決した。自動スプライスモジュールの下では、開始点と終了点を決定するだけで、自動的にスキャンして、その超滑らかな表面領域を再構築し、重なり合う隙間はありません。


全自主開発の第2世代顕微鏡3 D測定ソフトウェアプラットフォームは、画像スキャン、3 D分析、映像測定、自動化測定などの4つの大きな機能モジュールを集積し、図Wシリーズ、VTシリーズ、WTシリーズのすべての3 D機器機種を適応させることができ、機種の種類を自主的に識別することができ、2つのモデルは白色光干渉と共焦点顕微鏡の中で自動的にスキャンモードを切り替えることができる。
Xtremevision Proは中図の映像フラッシュ測定分野での成功経験を移植し、顕微映像測定機能を再構築し、ミクロ平面輪郭寸法の点、線間の距離、角度、半径などのパラメータに対して直接測定と自動マッチング測定を行うことができる。

Mark点映像認識自動座標位置補正、多領域座標点自動測位測定と分析、組み合わせ式で粗さ、輪郭寸法の一括自動測定を完成することができる。

方形、円形、環状と螺旋形式の自動連結測定機能をサポートし、映像ナビゲーション機能に合わせて、測定領域をカスタマイズでき、数千枚の画像のシームレス連結測定をサポートする。
SuperViewW光学顕微形態輪郭計各種製品、部品と材料表面の粗さ、うねり、面形状輪郭、表面欠陥、摩耗情況、腐食情況、空隙隙間、段差高さ、曲げ変形情況、加工情況などの表面形態特徴に対して測定と分析を行った。

| モデル | W1 | |
| 光源 | 白色LED | |
| 映像システム | 1024×1024 | |
| 干渉対物レンズ | 標準配置:10× オプション:2.5×、5×;20×;50×;100× | |
| 光学ZOOM | 標準配置:0.5× オプション:0.375×、0.75×;1× | |
| 対物レンズ塔台 | 標準配置:3穴手動 オプション:5穴電動 | |
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XY変位プラットフォーム | サイズ | 320×200㎜ |
| 移動範囲 | 140×100㎜ | |
| ふか | 10キロ | |
| せいぎょモード | 電動 | |
| Z軸フォーカス | スケジュール | 100㎜ |
| せいぎょモード | 電動 | |
| Z方向走査範囲 | 10 ㎜ | |
| 本体サイズ(縦×幅×高さ) | 700×606×920㎜ | |
お知らせ:市場の発展と製品の研究開発の必要のため、本製品の資料の関連内容は実際の状況に応じて随時改訂される可能性があり、予告なくご了承ください。
お問い合わせや詳細については、いつでも中図機器にお問い合わせください。