K-Alpha X線光電子分光計システム

K-Alpha X線光電子分光計システム高性能表面解析用X線光電子分光法

Thermo Scientific K-Alpha X線光電子分光器（XPS）システムは表面分析に新しい方法をもたらした。K-Alpha XPSシステムは、パフォーマンスや機能を犠牲にすることなく、シンプルなワークフローを使用して高品質な結果を提供することに重点を置いています。K-Alpha XPSシステムは集積式単色小スポットXPSシステムであり、深さ分析能力を備えている。

より先進的な性能、より低い価格、より容易な使用性とより大きなサンプル試験量は、K-AlphaXPSシステムをマルチユーザー環境の理想的な選択にした。K-Alpha XPSシステムは世界各地の研究者が表面分析を行うことができるようにした。

K-Alpha X線光電子分光計の特徴

高性能X線源

K−Alpha X線光電子分光器に搭載されたX線モノクロメータにより、50µmから400µmの分析領域内で5µmのステップで選択選択することができ、必要な信号を求めることができる。

サンプルビュー

K-AlphaXPSシステムの光学観察システムとXPS SnapMap集束サンプルを使用して、分析テスト領域を迅速に決定するのに役立ちます。

深さ解析

K−Alpha X線光電子分光器に装備されたEX 06イオン源を用いてより深い表面の分析を行った。自動ソース最適化とガス処理機能により確保された性能と実験再現性。

優れた電子光学系

高効率電子レンズ、半球型分析器と検出器は、K-Alpha X線光電子分光器が実現できる検出と高速データ収集を可能にする。

デジタル制御

Avantageデータシステムによって指導された直感的な操作により、K-Alpha XPSシステムはマルチユーザー、テストセンター、効率的な操作と高テスト量を重視するXPS専門家の理想的な選択となった。