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メール
Wayne.Zhang@Sikcn.com
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電話
13917975482
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住所
碧波路690号張江微電子港7号棟7階
Tiankong Scientific Instruments (Shanghai) Co., Ltd
概要
ウエハ検出コア技術の習得――半導体プローブ試験分野に専念
製品詳細
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LANANtek M のシリーズプローブテーブル
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主な特徴
●オプションの高温テスト環境
●オプションの直筒顕微鏡、体式顕微鏡または金相顕微鏡
●ステージ可Zじくしょうこう
●ステージテタ粗調整可能360°、微調整±7°
●ステージXY移動解像度は1um
●オプションの高圧高電流試験環境
●ラピッドパッキング機能と任意の位置ロック機能
●安定型顕微鏡架橋、移動分解能は2ウム，顕微鏡空気圧昇降
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オプションの添付ファイル
●無線周波数試験プローブ及びケーブル
●ローリーク電流/ようりょうしけん
●レーザ修復
●プローブカード/カプセル化/ PCBプレートクランプ
●アクティブプローブ
●高圧高電流モジュール
●ハイビジョンデジタルカメラ
●ホット チャック
●ステージ水平調整機構
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応用分野
●故障分析集積回路故障解析
●ウェーファーレベルの信頼性結晶信頼性認証
●デバイスの特徴部品特性測定
●プロセスモデリング塑性プロセス試験(材料特性解析)
●ICプロセス監視モニタの作成
●パッケージ部品プロービングICパッケージ段階の配線品質試験
●ESD&TDRテスト ESD和TDRテスト
●マイクロ波探査マイクロ波測定(高周波テスト)
●Solar太陽エネルギー分野の検出分析
●LED、OLED、LCDドメイン検出解析
●PCBドメイン検出解析
●船DFB、COC、シリコン光等光デバイス試験
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コンパチブルテスタ
●各種モデルオシロスコープ
●各ブランドの半導体パラメータ分析器、博測、是徳、泰克、概倫など
●各種ブランドのネットワークアナライザは、ドイツ、ロドシュワルツ、思儀など
●各種ブランドモデルのソース表
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