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曲げ表面膜厚計(ハンドヘルド)

交渉可能更新02/09
モデル
製造者の性質
プロデューサー
製品カテゴリー
原産地
概要
NS-Touch曲げ表面膜厚計(ハンドヘルド)は優れたハンドヘルドフィルム測定システムであり、顕著な価格優位性を有する。数秒以内にフィルムの反射スペクトルデータを迅速に分析し、単層と多層フィルムの厚さを分析することができる。専用のハンドヘルドプローブは、眼鏡、ランプなどの湾曲面の測定に便利である。
製品詳細
NS-Touch曲げ表面膜厚計(ハンドヘルド)は優れたハンドヘルドフィルム測定システムであり、顕著な価格優位性がある、眼鏡片硬化膜厚試験に用いることができる。数秒以内にフィルムの反射スペクトルデータを迅速に分析し、単層と多層フィルムの厚さを分析することができる。専用のハンドヘルドプローブは、眼鏡、ランプなどの湾曲面の測定に便利である。

ACUITIK NS-Touch 曲面测厚仪

一、ACUITIK NS-Touchサーフェスの厚み測定計器の主な機能

1、反射防止コーティング厚さ測定(AR Coating)
-操作が簡単:アーク眼鏡上の反射防止膜及び他の光学レンズ上の反射防止膜を測定する。
2、硬化膜厚測定(Hard Coating)
−ハードコート層とプライマー層の厚さを同時に測定することができる。
3、疎水層厚さ測定(Hydrophobic Layer)
・疎水性層は非常に薄く、約100原子の厚さしかないため、測定には短波長の紫外線を使用する必要がある。
二、NS-Touch曲げ表面膜厚計(ハンドヘルド)の特色
1、簡単な校正:AutoCalアルゴリズムはユーザーに日常校正の煩雑さから抜け出させた。
2、精度を高める:バック反射干渉を最小化し、測定結果がより正確で、より信頼できることを確保する。
3、簡易操作:自動サンプル検査アルゴリズムのおかげで、測定過程が直感的で使いやすい。
三、NS-Touchシリーズパラメータ仕様
モデル NS-タッチUV NS-タッチ NS-タッチ NIR
波長範囲 190 nm - 1100 nm 380 nm - 1050 nm 950nm~1700nm
厚さ測定範囲1 0.02 μm - 40 μm 0.05 μm - 80 μm 0.1μm〜250μm
せいど2 0.01 μmまたは0.2% 0.01 μmまたは0.2% 0.02 μmまたは0.4%
せいど3 0.001ミクロメートル 0.001ミクロメートル 0.002ミクロメートル
あんていせい4 0.001ミクロメートル 0.001ミクロメートル 0.002ミクロメートル
フレアサイズ(Flare Size) 100μm 100μm 100μm
そくていそくど < 1秒(単回測定) < 1秒(単回測定) < 1秒(単回測定)
光源 ハロゲンタングステンランプ+重水素ランプ ハロゲンタングステンランプ ハロゲンタングステンランプ
サンプルサイズ 直径1mm300ミリメートルまたはそれ以上 直径1mm300ミリメートルまたはそれ以上 直径1mm300ミリメートルまたはそれ以上
1、具体的な材料によって
2、Si/SiO 2(500 ~ 1000 nm)標準サンプル
3、100回測定500 nm SiO 2標準シートの1倍標準偏差を計算し、20個の有効測定日の1倍標準偏差に対して平均を取る
4、100回測定500 nm SiO 2標準シートの平均値を計算し、20個の有効測定日の平均値に対して2倍標準偏差を行う
NS-Touch測定例、レンズ上の反射防止コーティング(AR coating)膜厚測定
NS-Touch测量示例
NS−Touch繰返し精度の例では、レンズ上の硬化膜コーティング(Hard coating)膜厚測定安定性1−sigma標準偏差は0.001ミクロン未満である。
NS-Touch重复精度示例