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ZEM Ultra電界放出卓上走査電子顕微鏡

ネゴシエーション可能更新05/06
モデル
メーカーの性質
生産者
製品カテゴリー
原産地

概要

沢攸科技ZEM Ultra電界放出卓上走査電子顕微鏡——2.5 nm超高分解能卓上SEMより優れている。ショットキー電子銃+三段真空システムを採用し、50万倍増幅及びEDS/EBSD分析を支持する。

製品詳細

•製品紹介:

ZEM Ultra卓上走査電子顕微鏡はショットキー電界放出電子源を採用し、三次独立真空設計、2.5 nmより優れた分解能は多数の試料マイクロナノ構造特性化の需要を満たす。大束流と大サンプル倉庫を標準装備し、その場機能サンプル台とEDS/EBSDの拡張をサポートする。


•製品の特徴:

使いやすさ

全自動操作

ショットキー電界放出電子銃

高い安定性

高分解能観測

豊富な拡張



•製品パラメータ

主要指標 ZEM Ultra
解像度 ≦2.5ナノメートル
拡大倍率 100万倍
画像ピクセルサイズ(デフォルト) 512*512(ビデオ)2048*2048(写真撮影)
かそくでんあつ 1-15 kv連続調整可能
フィラメントタイプ でんかいほうしゅつフィラメント
でんどうしりょうだい XY二軸/XYZ三軸/XYT三軸/五軸
検出器タイプ BSE、SE、EDS
減速モード オプション(0-10 kvサンプルテーブル電圧減速)
オプチカルナビゲーション 光学ナビゲーション、庫内カメラ
サンプルビン内部寸法 176 mm幅*185 mm長*125 mm高さ
自動機能 自動輝度コントラスト、オートフォーカス、大図分割
ホームスタンド拡張機能 備わる