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玉科スポットOSI王子計測超高位相差測定装置

ネゴシエーション可能更新05/07
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概要

玉科スポットOSI王子計測PAM-UHR 100超高位相差測定装置$r$n玉科スポットOSI王子計測超高位相差測定装置

製品詳細


玉科スポットOSI王子計測超高位相差測定装置

玉科スポットOSI王子計測超高位相差測定装置



超高位相差測定装置PAM-UHR 100

玉科现货OSI王子计测超高相位差测量装置

■特徴
測定方法
へいこうニコルスペクトル

ほうしりょうすんぽう
□40 mm、厚さ≦3 mm

測定項目
位相差配向角、複屈折














Oji Keisoku(OSI王子計測)PAM-UHR 100超高位相差測定装置製品紹介

PAM-UHR 100は王子計測専用大位相差透明延伸フィルム(PET/PC/PMMAなど)開発した専用デスクトップ測定器、コアは通常の設備では測定できないことを解決800 ~ 2000 nm超大位相差の痛い点、採用平行ニコル分光法**、同時出力位相差、配向角、複屈折Δn三大コアパラメータは、高分子フィルムの研究開発、延伸技術の最適化、品質管理シーンに向けて、PAMシリーズ位相差専用機種(従来の低位相差/楕円偏光機種と区別)に属する。

一、コアの位置決めと測定原理

1.製品の位置づけ

  • 主な用途:超大位相差を正確に測定透明延伸フィルムの位相差、分子配向角、複屈折Δn、延伸配向均一性、熱収縮特性、光学異方性を評価し、従来の位相差計のレンジ不足(0 ~ 1000 nmのみ測定)、大位相差の読み取り不能/ホップ数の問題を解決する

  • 主なメリット:超大レンジ800 ~ 2000 nm、繰返し精度±1 nm、固定偏光光学系、ワンタッチ自動計算複屈折、卓上コンパクト安定

  • 適用場面:PET/PC/PMMAなどの光学/包装延伸フィルム、収縮フィルム、磁気テープベースフィルム、光ディスクベース、高複屈折高分子材料の研究開発、IQC、ライン抜取検査、プロセスパラメータ最適化

2.測定原理(平行ニコル分光法)

  • 採用固定偏光子+固定検光子+白色LED+分光検出の平行ニコル光学構造により、回転部品の摩耗、ドリフトを回避し、超大位相差の安定測定に適している

  • 原理:白色光は偏光サンプル検査光分光器を経て、スペクトル干渉信号解析を通じて、直接計算する超大位相差(800 ~ 2000 nm)、配向角;サンプル厚みを入力後、複屈折Δnの自動計算、手動換算不要

  • 光源:白色LEDソリッドステート光源、寿命が長く、波長が安定し、予熱なし、適応幅スペクトル位相差分析


二、重要技術パラメータ(標準)

1.コアパラメータの測定

  • 測定項目:位相差(Retardation)、配向角、複屈折Δn

  • 位相差レンジ:800~20000nm(20μm)(業界トップクラスの超大レンジ、すべての高延伸フィルムをカバー)

  • 位相差繰返し精度:±1nm(3σ)

  • 配向角測定範囲:0 ~ 180°

  • 配向角精度:±0.1°

  • 測定スポット:標準φ5 mm(40 mm正方形サンプル適合)

  • 測定速度:単点位≦10秒(スペクトル収集+計算を含む)

  • サンプル仕様:方形40 mm×40 mm、厚さ≦3 mm(透明延伸フィルム、シート)

2.ハードウェア仕様(デスクトップコンパクト一体化)

  • ホストサイズ:幅415 mm×奥行き325 mm×高さ165 mm

  • 本体重量:約14 kg(コンパクトデスクトップ、実験室/ラインステーションに置きやすい)

  • 給電:AC 100 V±10%、50/60 Hz(広い電圧に適合可能)

  • 環境要求:温度10 ~ 35℃、湿度20 ~ 80%RH(結露なし)

  • システム構成:測定ホスト(光学系+光源+分光器を含む)、専用Windows制御ソフトウェア、サンプル台、校正部品、データ線、電源線

3.ソフトウェアとデータ機能

  • 専用Windowsソフトウェア:リアルタイム表示位相差/配向角/Δn数値、スペクトル曲線、測定データ統計(平均値、標準差、Cpk)、合格判定

  • データ出力:CSV、Excel、PDF報告、一括導出、履歴データ遡及、SPC品質管理制御をサポートする

  • 操作:ワンタッチ測定、自動校正、厚さ入力自動計算Δn、パラメータプリセット、サンプル位置決め補助、操作簡単、専門光学背景不要


三、コア製品の優位性

  1. 業界測定の盲点を解決する超大位相差レンジ
    • 通常の位相差計は0 ~ 1000 nm、PAM-UHR 100カバーのみを測定する800~20000nmあてはまる高延伸PET/PCフィルム、収縮フィルム、テープベースフィルム等の超大位相差サンプル、無レンジ上限悩み、無ホップ数/読み取り不能問題

    • 固定偏光光学系、回転部品がなく、長期安定性が強く、ドリフトが小さく、メンテナンスコストが低い

  2. 超高繰返し精度、測定一貫性を保証
    • 位相差繰返し精度**±1 nm*、20000 nm超大量行程下においても高精度を維持し、研究開発級、量産級の品質管理要求を満たす

    • 白色光分光検査、耐干渉性が強く、サンプルのわずかな厚さ/透過率変動の影響を受けない

  3. ワンタッチの全パラメータ出力で効率アップ
    • 1回の測定で同時に得られる位相差、配向角、複屈折Δn、入力厚さはΔnを自動的に計算し、二次換算を必要としない

    • 単一ポイント≦10秒、従来の手動/回転式設備より効率が向上し、ロット抜取検査に適している

  4. コンパクトで安定しており、マルチシーンに最適
    • デスクトップ一体化、軽量(14 kg)、実験室の研究開発台、生産ラインの品質検査ステーションに柔軟に置くことができる

    • LEDソリッドステート光源、寿命>20000時間、無予熱、電源投入即使用、高周波次測定に適している


四、典型的な応用分野

  1. 高分子フィルム業界:PET/PC/PMMA延伸フィルム、収縮フィルム、光学補償フィルム、テープベースフィルム、包装フィルムの延伸配向評価、熱収縮特性解析、複屈折管制御

  2. 光学材料の研究開発:高複屈折高分子材料、光ディスク基材、液晶セット高位相差フィルムの研究開発と性能検証

  3. 生産ライン品質管理制御:高延伸フィルム原料IQC、プロセスパラメータ最適化、完成品均一性抜き取り検査により、大位相差で測定できない痛い点を解決する


五、同シリーズの通常機種との比較(PAM-PR 300 vs PAM-UHR 100)

たいひこうもく PAM-PR 300(通常位相差/光軸) PAM-UHR 100(超高位相差専用)
位相差レンジ 0~1000nm 800~20000nm(20μm)
コア精度 角度±0.006°、位相差±0.1 nm 位相差±1 nm、配向角±0.1°
そくていげんり かいてんへんこうほう パラレルニコル分光法
サンプルタイプ 低位相差光学フィルム、偏光板 高延伸/大位相差透明フィルム(PET/PC)
コア用途 光学フィルムの光軸/低位相差精密測定 超大位相差、複屈折、配向評価







六、購入ルート

幅広い業界のお客様、パートナーの問い合わせと商談協力を歓迎する:

玉崎科学計器(深セン)有限公司

特定項目責任者:¹⁵⁸⁵⁵⁵⁸(林)

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