OSI王子計測位相差測定システムサンプル送り付き

オジ・ケイソク（王子計測、OSI) KOBRA-WFD0専用です長尺状光学フィルム開発された高精度、自動進入方式の光学位相差測定システム、コアをフィルムに使用する位相差、配向角、波長分散及び入射角依存性分析は、光学フィルムの研究開発と品質検査の設備である。

一、核心技術原理

• 測定方法：平行ニコル回転法（Parallel Nicol Rotation Method）

• 従来の回転偏光子法と比較して、超低位相差サンプル（OLED円偏光板基材など）は感度が高い。

• 光路の安定性が強く、実現可能ちょうはばレンジシフト位置を切り替える必要はありません。

• 光源システム：6バンドソリッドステートLED光源

• 波長：450/500/550/590/630/750ナノメートル（±2ナノメートル）

• 寿命：20,000時間以上、水銀ランプ/ハロゲンランプを交換する必要はありません。

二、重要技術パラメータ

• 測定範囲

• 位相差（Retardation）：0 ~ 20000ナノメートル（超薄膜から厚補償膜までの全レンジをカバー）

• 配向角（Optic Axis）：0 ~ 90°

• 精度指標

• 位相差分解能：0.001ナノメートル

• 位相差反復性：≦0.03ナノメートル（150 nmスケール、590 nm、3σ）

• 角度解像度:0.001°

• サンプル仕様

• プロファイルメジャー（Profile）：幅50ミリメートル×長さ任意（連続自動送り対応）

• 入射角依存性測定：30ミリ~ 40×50ミリ、厚みt≦3 mm

• 測定スポット：33 mm²（5.8 mmスクエア）

• 制御システム

• 専用ソフトウェア：KOBRA-DSP/FD，KOBRA-RE0

• データの可視化、レポートのエクスポート、多点分布解析のサポート

三、製品の核心優勢

1. 幅広自動サンプリング

• 専用ボリュームペアボリューム（Roll-to-Roll）プロセス長尺フィルム設計し、連続、自動化の長さ方向位相差分布（Profile）測定をサポートする。

• 検査効率を大幅に向上させ、生産ラインの抜き取り検査と研究開発ロット試験に適している。

2. 超ワイドレンジと超高精度

• 1回の測定で0 ~ 20000 nmをカバー、検出器の交換やゲインの調整は必要ありません。

• 対nmレベル超薄膜（OLED用COP膜など）とμm級厚膜（例えば大型LCD補償膜）はすべて備えるナノスケール測定精度。

3. 多機能解析機能

• 位相差分布（Profile）：フィルムの幅/長さ方向に沿った均一性分析。

• 入射角依存性（Angle Dependence）：異なる視野角での光学的表現をシミュレーションする。

• 波長分散特性（Wavelength Dispersion）：多波長における位相差変化傾向。

四、典型的な応用分野

• ディスプレイ光学材料：位相差フィルム、偏光板、OLED/LED用円偏光板、液晶補償フィルム

• 高分子材料：延伸フィルム、ポリイミド（PI）フィルム、COP/Cyclic Olefin Polymerフィルム

• 研究開発と品質検査：光学フィルム材料の開発、製造工程の安定性監視、原料品質検査、故障分析

五、まとめ