XRD/X線回折計/その場延伸超高温熱ステージXH 1200

X線回折分析器のために設計されたその場装置は、温度変化、力学負荷などの複数の結合条件下での材料のリアルタイム応答を正確に制御し、ブルック、サイマー飛、理学、島津などの主流のXRD設備に正確に適合することができる。

果物計器XH 1200：温度範囲RT ~ 1200°C、温度安定性土0.1°Cは、定点、傾き、プログラム段の多モード精密温度制御を実現することができる。

ステージ反射/透過オプション、円弧形窓の設計、回折角2θ：∠0°～∠164°、Kapton膜を窓として採用する、

理学、ブルック、サイマーフライ、島津、パナコなど、さまざまなタイプのX線回折計に適しているスタンドをカスタマイズできます。

XRD冷熱テーブルXH 1200特徴：

•温度範囲：-190℃~ 600℃

•温度安定性：±0.1℃

•回折角2θ：∠0°～∠164°

•ウィンドウの材質：Kaptonフィルム

•真空をアップグレードできる雰囲気チャンバ

•上部カバーを交換でき、通常の冷熱テーブルとして使用できる

XRD冷熱テーブルXH 1200パラメータ：