X線回折計は大気中で試料を非破壊分析し、物質の定性分析、格子定数の確定と応力測定などを行うことができる。また、ピーク面積計算による定量分析が可能である。
半値幅、ピーク形状などによる粒径/結晶度/精密X線構造解析などの各種解析が可能である。

0.0001°の最小ステップを有する高精度サンプル水平型測角計を装備している。分析目的に応じて、大型サンプルの分析に適したL型（最大350 mmφサンプル）と汎用のS型を選択することができる。

・XRD-7000シリーズはサンプル水平型測角計を搭載し、超大型サンプルを測定することができる。

・定性・定量などの基本分析だけでなく、残留オーステナイト定量、環境定量、格子定数の精密化、結晶度の計算、結晶粒径と格子応力の計算、結晶系決定、Rietveid構造解析ソフトウェアによる結晶構造解析にも応用できる。添付ファイルを追加することで、応力測定、サンプル加熱過程の分析、フィルムサンプル測定などにも応用できる。

·新開発の大型R-θ試料台を用いて、最大350 mmφ試料全表面の自動応力マップ測定を行うことができる。

・強大な多毛細管平行ビームシステムを採用し、凹凸の異なるサンプルの分析に対応し、応用範囲を拡大することができる。
多毛細管平行ビームシステムを用いた測定例

（薬品/食品/生体編）
（機械部品編）

XRD-7000を用いたブレーキディスク応力のプロット解析例

応力自動プロットシステム

R-θサンプルテーブル画像ページにサンプル位置を設定し、起動すると全自動で成図分析を行うことができ、同時に応力分析結果の計算を自動的に行うことができる。分割して得られた測定結果をつなぎ合わせるなどの処理を行うこともできる。また、応力解析結果をグラフ表示することもできます。

下図はブレーキディスクの応力を図示した例である。Fe 211の分布は一目瞭然である。