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FEI走査電子顕微鏡Apreo材料の科学的応用

交渉可能更新02/10
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プロデューサー
製品カテゴリー
原産地
概要
FEI走査電子顕微鏡Apreo材料の科学的応用
製品詳細

Apreo材料の科学的応用

最も豊富な機能を備えた高性能SEM


Apreoの革命的な複合レンズ設計は静電と磁気浸漬技術を結合し、かつてない高解像度と信号選択を生み出すことができる。これにより、Apreoはナノ粒子、触媒、粉末、ナノデバイスを研究するための理想的なプラットフォームとなり、磁性サンプルの性能を低下させることはありません。

Apreoは、傾斜、動作距離が短い、または敏感なサンプルで使用されている場合でも、優れた材料コントラストを提供する独自のレンズ内後方散乱検出の恩恵を受けています。新しい複合レンズはエネルギーろ過によりコントラストをさらに高め、絶縁試料イメージングのための電荷ろ過を増加させた。低真空モードを選択可能現在の最大試料貯蔵圧力は500 Paであり、最も厳しい絶縁体をイメージングすることができる。

これらの利点(複合最終レンズ、高度な検出、柔軟なサンプル処理など)により、Apreoは優れたパフォーマンスと多機能性を提供し、将来の研究課題に対応するのに役立ちます。



Apreo SEMのメリットを体験する

  • 独自の複合終段レンズは、電子ビーム減速を必要とせずに、傾斜時や地形測定時でも、任意のサンプルに優れた分解能(1 kV電圧で1.0 nm)を提供することができる。
  • 効果の大きい後方散乱検出-低電圧と電子ビーム電流で電子ビーム感受性試料を傾斜角度でTVレートイメージングしても、常に良好な材料コントラストを保証します。
  • この上なく柔軟な検出器-各検出器部分から提供される情報を結合して、重要なコントラストまたは信号強度を得ることができます。
  • 試料室圧力が最大500 Paの低真空モードを含む様々な電荷緩和戦略により、任意の試料のイメージングを実現することができる。
  • 優れた分析プラットフォームは高電子ビーム電流を提供し、光スポットが小さい。サンプルビンは3つのEDS検出器、共面EDSとEBSD、および分析に最適化された低真空システムをサポートしている。
  • サンプル処理とナビゲーションは極めて簡単で、多目的サンプルホルダーとNav-Cam+を備えている。
  • Advanced User Advisor、プリセット、および取り消し機能を使用して、新規ユーザーにエキスパートレベルの結果を提供します。