X線蛍光めっき層厚測定器

EDX-VX線蛍光めっき層厚測定器天瑞計器が30年余りのX蛍光膜厚測定技術を集め、研究開発したX線蛍光めっき層の厚さ測定及び成分分析計である。計器は多導毛細管X線光学系を採用し、ミクロン級寸法の電子部品、チップピン、ウエハマイクロゾーンなどの部品のめっき厚さと成分分析に対して、効率的で正確な測定を行うことができる。

EDX-VX線蛍光めっき層厚測定器パフォーマンスの利点
1、めっき業界の微小サンプルの検査需要を結合し、めっき検査に適した超近光路システムを専門に研究開発し、エネルギー過程の損失を減少する。先進的な多導毛細管集束管を搭載し、計器の検出性能を大幅に向上させ、集束強度を1000 ~ 10000倍向上させ、より高い検出感度と分析精度及び高い計数率で試験結果の正確性と安定性を保証した。
2、パノラマ+マイクロエリアのデュアルカメラ設計、フルHD広角視野を呈し、サンプル観察をより全面的にする、ミクロンレベルの解像度で、超マイクロ製品のテストをよりよく満たし、テストをより広く便利にします。
3、先進的な多導毛細管技術、信号強度は金属コリメートシステムより数桁高い。
4、多規格で選択可能な多導毛細管は、ユーザーの異なるテスト需要をよく満たす。
5、高精度XYZ軸移動試験プラットフォーム、デュアルレーザーポイント位置決めシステムを結合して、サンプル試験過程中の全自動化感受性ワンクリックを実現でき、試験はより安心できる。

製品応用分野
プリント配線板、コネクタ、リードフレームなどの超微小部品と構造を測定する。
厚さが2 nmまで薄いAuめっき層と≦30 nmのPdめっき層、
電子及び半導体業界における機能性めっき層の測定、
複雑なマルチメッキシステムを分析する、
品質制御分野での使用、
ENIG/ENEPINGの要件を満たし、DINISO 3497、ASTMB 568、IPC 4552、IPC 4556の基準を満たしている。