X線分析器

クイック解析

革新的にX線透過イメージングと先進的なX線蛍光スペクトルを併用して、EA 8000 Aの走査速度が他の方法より100倍速いようにした。例えば、わずか30分で200 x 250 mm領域内で20µmのサイズの金属粒子を検出し、成分分析することができる。

自動操作

EA 8000 Aは、X線投射画像により金属異物を検出し、その後、XRF技術を用いてこれらの領域を自動的にスキャンすることができる。

埋め込み異物を検出する能力がある

日立が採用したイメージング技術により、サンプル体積全体で金属異物が検出されることを確実にした。先進的なXRFキャピラリー光学機構は、高度な集束と強いX線ビームを提供し、電極板及び有機薄膜表面下の金属異物を分析することができる。

大量生産をサポート

EA 8000 Aは多機能性、高速性、自動化特性を持ち、大量生産をサポートすることができる。それは迅速にスキャンを完了することができるので、原材料分析、プロセス制御と故障分析に非常に適しており、リチウムイオン電池生産の各方面が高品質基準に合致することを確保している。

EA 8000 A X線分析計仕様