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アドレス
深セン市宝安区西郷街道南昌コミュニティ深セン前湾硬科技産業園B棟608-609
深セン市心怡創科技有限公司
概要
中古JEOL電界放出電子顕微鏡SEM+EDX+EBSDの主な特徴は：浸漬式ショットキー電子銃技術を応用した電気学システム、GB（Gentle Beamモード）と各種検出器を用いて低加速電圧で信号を高分解能観察し選択できるTTLSシステム（Through−The−Lens System）、電気的に重畳されたハイブリッド対物レンズ。
製品詳細
中古JEOL電界放出電子顕微鏡SEM+EDX+EBSD技術仕様
JSM-7200F JSM-7200mlv
| 解像度 | 1.0ナノメートル（20 kV）、1.6ナノメートル（1 kV） | 1.0 nm（20 kV）、1.6 nm（1 kV）、1.8 nm（30 kV、低圧） |
| 拡大倍率 | ×10～×1000000（写真サイズ120 mmx 90 mm）、×30〜×300000（1280×960ピクセルディスプレイ）、 | |
| かそくでんあつ | 0.01kV～30kV | |
| ビームフロー | 1pA～300nA | |
| オート絞り角制御レンズACL | 組み込み | |
| 大被写界深度モード | 組み込み | |
| 検出器 | 上位検出器（UED）、下位検出器（LED） | |
| サンプルテーブル | 5軸モータ駆動サンプルテーブル | |
| サンプル移動範囲 | X：70 mm Y：50 mm Z：2 mm～41 mm傾斜－5～＋70°360°回転 | |
| 低真空域 | - | 10pa～300pa |
中古JEOL電界放出電子顕微鏡SEM+EDX+EBSD日本電子（JEOL）JSM-7200 Fは高性能の熱電界放出走査電子顕微鏡（FE-SEM）であり、高分解能と低電圧観察能力を主とし、材料科学、半導体、ナノ技術などの最前線研究と工業品質検査に広く用いられている。
一、核心技術と優勢
浸漬型ショットキー熱電界放出電子銃
旗艦機種JSM-7800 F Primeに由来する技術で、高輝度、高安定な電子源を提供しています。
プローブ電流は300 nAに達することができ、高分解能イメージングとエネルギースペクトル（EDS）元素分析の需要を両立する。
ハイブリッド対物レンズ
磁気レンズと静電レンズを結合すると、球面差がより小さくなり、分解能が著しく向上する。
従来のout-lens設計の大きな作業距離と使いやすさを残し、磁性材料を直接観察することができます。
TTLS鏡内信号システム+GBソフトビームモード
TTLS（Through−The−Lens System）：低電圧での弱信号をミラー内検出器により効率的に収集する。
GB（Gentle Beam）モード：サンプルにバイアス電圧を印加し、低加速電圧、高分解能イメージングを実現し、サンプルの荷電と損傷を効果的に軽減する。
二次電子（SE）と後方散乱電子（BSE）信号の同時分離収集をサポートする。
二、重要技術パラメータ
電子銃：ショットキー熱電界放出（浸漬式）
加速電圧：0.1 V～30 kV（連続調整可能）
空間分解能
高電圧（15 kV）：0.8 nm
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低電圧（1 kV）：1.3 nm
ビームフロー：300 nA
サンプル台：5軸全自動/半自動（X/Y/Z/傾転/回転）
ひょうじゅんたんちき
高位二次電子検出器（USD）
鏡内二次電子/後方散乱電子検出器（TTLS-SE/BSE）
オプション機能：EDS分光分析、EBSD電子後方散乱回折、STEM透過モード、ガスサンプル環境室
三、主な応用分野
材料科学：ナノ材料、二次元材料、金属合金、セラミックス、高分子の形態と構造分析。
半導体/マイクロエレクトロニクス：チップ、フォトレジスト、MEMS、パッケージの欠陥検出と故障解析。
生命科学：生体組織、細胞、ウイルス、生体高分子の高分解能形態観察。
地質と環境：鉱物、エアロゾル、マイクロプラスチックのマイクロゾーン特性化。
自動車/航空：複合材料、触媒、コーティングの品質制御と研究開発。
