TrueDrop®接触角測定器

TrueDrop® SL 200 L接触角測定器は液晶、ウエハ、半導体、シリコンシート及びフォトレジストなどの精密材料の表面清浄度と濡れ性分析のために設計された装置である。大移動プラットフォームとモジュール化設計理念に基づき、この設備は自動給液、動的接触角及び界面張力試験をサポートし、工業品質検査と研究開発に正確なデータサポートを提供する。

TrueDrop® SL 200 L接触角測定器の核心技術優勢

1. 大移動プラットフォームの設計：

   • PCBボード、IPADディスプレイ、タッチスクリーンなどの大型サンプルに適した清浄度と接触角測定。

   • 液晶、ウエハ、半導体などの精密材料の表面濡れ性評価をサポートする。

2. 高精度光学系：

   • 工業級輪郭レンズ：イメージングが鮮明で、液滴輪郭の正確な識別を確保する。

   • 石英ガラスフレキシブル光源：均一な背景照明、画像コントラストを向上させる。

3. インテリジェント化ソフトウェアシステム（CAST™3.0）：

   • 動的接触角解析：前進/後退角、転がり角及び時間依存接触角測定をサポートする。

   • 表面自由エネルギー計算：分散力、極性力、水素結合力などの成分を分析し、材料の表面特性を評価する。

   • 液−気／液−液界面張力試験：ペンダントドロップ法（Pendant Drop）に基づいて正確な測定を実現する。

4. 自動給液システム：

   • 高精度の液滴制御、微量サンプル試験の適応、試薬消費の低減。

業界の痛点ソリューション

• 表面清浄度検査：接触角と界面張力試験を通じて、液晶、ウエハ、半導体などの材料の表面汚染物残留を迅速に評価する。

• レジスト湿潤性分析：レジストプロセス中の塗布均一性と付着力を最適化し、製造良率を向上させる。

応用分野

• 液晶表示：画面表面の清浄度とコーティングの濡れ性を評価する。

• 半導体製造：ウエハ、シリコンウエハ表面汚染物の検出と濡れ性分析。

• レジストの研究開発：レジスト塗布性能を最適化し、プロセスの安定性を高める。

• タッチスクリーン品質検査：表面清浄度とコーティング付着力評価。

技術優位

• 高精度制御：ミクロン級位置決め精度、機械振動干渉を減少する。

• モジュール化設計：機能拡張をサポートし、多様なテストニーズに適合する。

• 操作の利便性：ウィザード式ソフトウェアインタフェースはワンタッチ操作機能を結合し、使用の敷居を下げる。

サービス・サポート
専門的な技術サービスとカスタマイズ方案を提供し、設備の研究開発と品質制御における効率的な応用を確保する。

接触角定義

固体水平平面に小さな液滴を滴下し、固体表面の固液−気三相境界点において、気体−液界面と固液界面の両接線によって液相を挟み込む際に形成される角度を接触角と呼ぶ。

適用範囲テーブル

準拠表

SL 200 Lシリーズ接触角測定器/試験器製品の特徴と利点

業界の痛点ソリューション

1. トップビュー3 D接触角機能：

   • 液晶、ウエハ、半導体などの高精密材料の表面構造と化学多様性が濡れ性に与える影響を評価するために用いられ、従来の方法ではミクロ粗面及び複雑な化学組成を正確に分析できない難題を解決する。

2. 力学プラチナ板表面張力試験：

   • 高精度力学白金板法によりシリコンウェハ、レジスト表面の有機汚染物残留を検出し、製造過程における汚染物の迅速なスクリーニング検査の業界の痛点を解決する。

コア技術と構成

1.高精度制御システム

• クロスリニアガイド技術：

  • 手動制御精度0.01 mm、ソフトウェア制御精度0.5μm、ウエハ、半導体などの精密サンプルの安定測定を確保する。

• 9次元機械構造設計：

  • 2 XYZ+3水平調整システムは、サンプル台、カメラ、サンプリングシステムの動作を調整し、大サイズディスプレイ（例えばIPAD、タッチスクリーン）テストに適している。

• ナノアップグレード射出ポンプシステム：

  • 液滴制御精度は0.02μL（nL級まで拡張可能）に達し、レジスト微量塗布試験の需要を満たす。

2.専門化光学イメージングシステム

• 高被写界深度工業用レンズ（0.35-4.5 X拡大倍率）：

  • 液晶、シリコンシート表面の微視的な液滴形態を鮮明に捉え、曲面補正技術を支持して凹凸面接触角を分析する。

• 高速撮像システム：

  • ドイツのオリジナル87フレーム/秒カメラ（1000フレーム/秒にアップグレード可能）は、レジスト湿潤過程を動的に記録する。

• 調整可能LED冷光源：

  • 液滴の揮発干渉を回避し、フォトレジストなどの感光材料の試験安定性を確保する。

3.インテリジェント化分析ソフトウェア（CAST™2.0）

• 動的接触角解析：

  • 前進/後退角、転がり角及び時間依存性接触角の測定を支持し、半導体表面汚染物の動態吸着研究に適合する。

• 表面自由エネルギーモデル：

  • 12種類のアルゴリズム（例えばAcid-base法）は分散力、極性力を分析し、材料の表面清浄度とコーティングの互換性を評価する。

• 液−液界面張力試験：

  • Young−Laplace方程式フィッティングに基づいて、レジストと現像液の界面挙動解析をサポートする。

4.拡張機能と互換性

• モジュラー型注入システム：

  • PTFE針管、細い針管と互換性があり、高粘度フォトレジスト及び疎水性材料のテストに適している。

• 標準化されたビデオモード：

  • マルチブランドホストのアップグレードをサポートし、データはExcel/BPM形式に導き出すことができ、科学研究論文と工業報告の需要を満たす。

• 静電気防止設計：

  • イオン風技術はウエハ、半導体試験における静電干渉を除去し、測定値の正確性を向上させる。

シーンを適用

• 液晶表示業界：画面表面清浄度とコーティング濡れ性検査。

• 半導体製造：ウエハ/シリコンウェハ汚染物スクリーニング、レジスト塗布均一性評価。

• タッチスクリーン品質検査：表面付着力と清潔度分析。

• フォトレジストの研究開発：処方の湿潤性能を最適化し、技術の良率を高める。

技術優位

• 精密で高精密材料の配合に適している：マイクロエレクトロニクス業界のために設計され、表面構造が複雑で、汚染物の検出が難しい痛い点を解決する。

• 全プロセス自動化：ワンタッチで画像キャプチャ、計算とデータ保存を完成し、人為誤差を減少する。

• 耐干渉設計：多層レベル調整システムは静電気防止技術を結合し、環境下のテスト安定性を確保する。

技術仕様

以下に「*」と表記されているのは、各モデルの主な違いです。

添付ファイル：

1、温度制御装置：

（1）サンプル温度制御（2）試験液体温度制御を含む、

これは2つの温度制御システムであり、それぞれ液体及び固体サンプルの温度を制御する。単独で購入することも、同時に購入することもできます。

→固体サンプル温度制御方式は以下の2種類の温度制御方式の1つを選択可能：

（1）恒温水槽の制御：0-95℃、温度誤差は0.1℃、

（2）半導体加熱冷凍：5〜85℃、温度誤差は0.5℃、

（3）特殊温度加熱システム：例えば200℃、400℃の温度制御要求は私たちと確認することができる。

→液体温度制御方式は恒温水槽の方式を提案する。

2、高温接触角試験：最高1400、1700、1800、2000度接触角試験を実現する、製品をカスタマイズするには、手付金が必要です。

3、真空環境装置：真空または異なるガス環境下での接触角試験を実現する、製品をカスタマイズするには、手付金が必要です。

4、サンプル槽：サンプルの揺れ及び温度、光線などの影響を効果的に制御する、製品をカスタマイズするには、手付金が必要です。

5、高温界面張力試験：溶融した固体材料と空気の界面張力試験は、懸滴法または停滴法界面張力分析技術を採用する。製品をカスタマイズするには、手付金が必要です。

6、全シリーズの針管と針

25 uL、100 uL、500 uL、1000 uL高精度微量注入器、およびポリテトラフルオロエチレン針、ステンレス鋼針（各種直径）、プラスチック針、曲げ針などを含む

7、高精度デュアルチャネルソフトウェアによる自動射出ポンプの制御

8、専用治具：繊維、フィルム、紙などを挟持するために使用する

9、気泡捕捉法用石英ガラスサンプル槽

10、振動液滴（oscillating drop）試験モジュール

（1）高周波発振器及び閉ループ式発振制御システムを採用し、制御精度がより高く、制御方式がより柔軟で、顧客のニーズに応じて異なる発振周波数と発振振幅の発振器を選択することができる。

（2）注入針管のオプション：0.5 uL、1 uL、5 uL、15 uL、100 uL、500 uL、1000 uLなど。

（3）発振波形は、正弧波、余弧波、三角波、線形波、鋸歯波などを含み、周波数は2 KHz以内で減衰せず、歪まない。

CAST 2.0画像解析システム試験の実図例

1、前進後退角分析実図：

図1分析方法：曲線尺擬法（円フィッティング、splineフィッティング、広義二次曲線フィッティングなど）。

前進角/後退角テストでは、射出ポンプまたは蠕動ポンプを購入することを推奨します。前進角/後退角を形成する技術には、（1）液滴量を増加/減少させ、前進/後退角を形成する方法、（2）試料台が傾斜し、前進後退角を形成する。上図のように

2、不規則接触角分析実図：

図中に撮影されたのはシリカゲルの実際の効果図で、曲線尺フィッティング技術を用いて接触角値を計算した。適合因子は90%以上である。

図2分析方法：Spline曲線擬法またはYoung-Laplace方程式擬法

特別声明：

1、以上の画像資料及び技術パラメータの設計による変更は、別途通知せず、最新確認された製品資料を基準とする。

2、当社はすべての権利を留保する。

3、アサ®、RealDrop®、TrueDrop®、MicroDrop®、WBA®、ADSA®上海ソロンの登録商標です。

キャスト^®、アサ^®・ADSA^®TrueDropについて^®RealDropについて^®・TheDrop^®マイクロドロップ^®・LMCA^®・Shsolon^®、ソロン^®上海ソロンの登録商標です。

上記の商標は、接触角測定器、表面張力計、界面張力計の商品またはサービスに使用されている。権利侵害は必ず追究する！