同恵TH 2826高周波LCRデジタルブリッジ

ネゴシエーション可能更新05/20

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概要

TH 2826シリーズ素子テスタはLXI基準を満たす次世代インピーダンステスタであり、その0.1%の基本精度、20 Hz〜5 MHzの周波数範囲は素子と材料の測定要求を満たすことができ、低ESRキャパシタと高Qインダクタの測定を測定することができる。マイクロホン、共振器、インダクタ、セラミックコンデンサ、液晶ディスプレイ、バラクタダイオード、変圧器などの多くの電気的特性の分析に使用することができる。

製品詳細

技術仕様

テストパラメータ	C、 L、R、Z、Y、X、B、G、D、Q、θ、DCR
テスト周波数	第2826ページ	20 Hz～5 MHz、10 mHzステッピング
	f≤1MHz	10mV～5V，±（10%+10mV）
	f> 1MHz	10mV～1V，±（20%+10mV）
出力インピーダンス	10Ω、30Ω、50Ω、100Ω
きほんせいど	0.1%
表示範囲	L	0.0001 uH～9.9999kH
	C	0.0001華氏度～9.9999華氏度
	R、 X、Z、DCR	0.0001Ω～99.999 MΩ
	Y、 B、G	0.0001ナノ秒～99.999ナノ秒
	D	0.0001 ～ 9.9999
	Q	0.0001 ～ 99999
	θ	-179.99°～ 179.99°
速度を測定する	高速：200回/s（f＞30 kHz）、100回/s（f＞1 kHz）中速：25回/s、低速：5回/s
キャリブレーション機能	オープン/ショートポイント周波数、スイープクリア、負荷キャリブレーション、スイープクリア、ロードキャリブレーション、スイープクリア、ロードキャリブレーション、スイープクリア、スイープクリア、ロードキャリブレーション、スイープクリア、スイープクリア、ロードキャリブレーション、スイープクリア、スイープクリア、ロードキャリブレーション
とうかほうしき	シリーズ方式
レンジモード	自動、保持＃ジドウホジ＃
表示方法	直読、Δ、Δ%
トリガモード	内部、手動、外部、バス
ないぶちょくりゅうバイアス	でんあつモード	-5 V～+5 V，±（10%+10 mV），1 mVステップ
ソースを置く	電流モード（内部抵抗50Ω）	-100 mA～+100 mA，±（10%+0.2 mA），20 uAステップ
コンパレータ機能	10速選別及び計数機能
ディスプレイ	320×240ドットマトリクスグラフィックスLCD表示
メモリ	20組の機器設定値を保存可能
インターーフェース	USBデバイス（USBTMCとUSBCDCに対応）
	USBホスト（FAT 16とFAT 32に対応）
	ローカルエリアネットワーク（LXI Cレベルサポート）
	RS232C
	プロセッサー
	GPIB（オプション）

パフォーマンスの特長

試験周波数：20 Hz～5 MHz、解像度：10 mHzステップ
基本精度：0.1%
試験速度：200回/s
圧電セラミックス、超音波トランスデューサなどのデバイスのインピーダンス解析
マルチパラメータマルチ周波数リスト走査機能付き
テストレベル10 mV～5 V、1 mVステッピング
320×240ドットマトリクス大型グラフィックスLCD表示
5ビット読取り解像度
22種類のインピーダンスパラメータの組み合わせを測定可能
4種類の信号源出力インピーダンス
10点リストスキャン試験機能
内部自己帯域直流バイアス源
外付バイアスソース40 A（オプション）
電圧または電流の自動レベル調整（ALC）機能
V、I試験信号レベル監視機能
グラフィックスキャン解析機能
20組の内部機器設定は貯蔵/読み取り可能
ビルトインコンパレータ、10段選別及び計数機能
複数の通信インタフェースがユーザーのオンライン使用に便利
2 m/4 mテストケーブル拡張（オプション）
中国語と英語のオプション操作インタフェース
USB HOSTによる機器作業プログラムの自動アップグレードが可能

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